講演名 2017-10-20
SMTを用いた制約付きロケーティングアレイの生成について
金 浩(阪大), 崔 銀惠(産総研), 土屋 達弘(阪大),
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抄録(和) 本研究では,ソフトウェアシステムに対するテスト手法の一例である組み合わせテストについて議論する.具体的には,組み合わせテストの拡張として,故障検出だけでなくその特定も実現できるように,ロケーティングアレイをテストスイートとして利用することを考える.既存のロケーティングアレイの研究では,テスト対象のシステムが有するパラメータ上の制約について考慮されていないことが問題であった.本研究では,制約を考慮したロケーティングアレイである制約付きロケーティングアレイの概念を導入し,このようなロケーティングアレイを,SMTソルバを用いて生成する方法を提案する.
抄録(英) Combinatorial interaction testing (CIT) is a well-known testing strategy for software systems. We inves-tigate a new CIT approach which uses locating arrays as test suites, since this can enable not only fault detection butalso fault identification. Existing studies on locating arrays do not take into account constraints over test parameters. As real-world systems usually have such constraints, this approach has had limited applicability thus far. To copewith the problem, we introduce the notion of Constrained Locating Arrays (CLAs) which can deal with constraintsand propose a method for automatically generating CLAs using an SMT solver.
キーワード(和) ロケーティングアレイ / 制約付きロケーティングアレイ / 組合せテスト / SMTソルバ
キーワード(英) locating array / constrained locating array / combinatorial interaction testing / SMT solver
資料番号 SS2017-30,DC2017-29
発行日 2017-10-12 (SS, DC)

研究会情報
研究会 SS / DC
開催期間 2017/10/19(から2日開催)
開催地(和) 高知市文化プラザかるぽーと
開催地(英) Kochi City Culture-plaza CUL-PORT
テーマ(和) ソフトウェアシステム, ネットワーク環境でのディペンダビリティ
テーマ(英) Software System and Dependability on Network, etc
委員長氏名(和) 緒方 和博(北陸先端大) / 井上 美智子(奈良先端大)
委員長氏名(英) Kazuhiro Ogata(JAIST) / Michiko Inoue(NAIST)
副委員長氏名(和) 中田 明夫(広島市大) / 福本 聡(首都大東京)
副委員長氏名(英) Akio Nakata(Hiroshima City Univ.) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.)
幹事氏名(和) 小林 隆志(東工大) / 肥後 芳樹(阪大) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大)
幹事氏名(英) Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 島 和之(広島市大) / 新井 雅之(日大)
幹事補佐氏名(英) Kazuyuki Shima(Hiroshima City Univ.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Software Science / Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) SMTを用いた制約付きロケーティングアレイの生成について
サブタイトル(和)
タイトル(英) On the generation of constrained locating arrays using an SMT solver
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ロケーティングアレイ / locating array
キーワード(2)(和/英) 制約付きロケーティングアレイ / constrained locating array
キーワード(3)(和/英) 組合せテスト / combinatorial interaction testing
キーワード(4)(和/英) SMTソルバ / SMT solver
第 1 著者 氏名(和/英) 金 浩 / Hao Jin
第 1 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 崔 銀惠 / Eun-Hye Choi
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya
第 3 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
発表年月日 2017-10-20
資料番号 SS2017-30,DC2017-29
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) SS-248,DC-249
ページ範囲 pp.55-60(SS), pp.55-60(DC),
ページ数 6
発行日 2017-10-12 (SS, DC)