講演名 2017-08-02
[招待講演]確率的A/D変換と誤差補正用機械学習による逐次比較A/D変換器の高精度化
松岡 俊匡(阪大), 鎌田 隆嗣(SPChange), 植田 昌行(SPChange), 平井 雄作(阪大), 谷 貞宏(阪大), 浅野 智大(阪大), 勇 正大(阪大), 倉田 宗史(阪大), 巽 啓司(阪大),
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抄録(和) モバイル・クラウド環境のICTインフラを活用した日常健康管理・遠隔医療の実現には,ウェアラブル生体情報センサとICT技術の活用が必要とされている.そこで,システム全体を俯瞰して,誤差補正のための機械学習機能を搭載し,これと整合性のある回路技術として逐次比較型A/D変換器に並列型確率的A/D変換器を融合して,低電力動作と高精度計測の両立が可能なアナログフロントエンドICを開発している.本論文では,この開発状況について述べる.
抄録(英) To realize daily life health care and telemedicine utilizing ICT infrastructure of the mobile cloud environment, wearable biomedical information sensing devices and ICT techniques are required to be popularized. Overlooking the whole system, we are developing low-power high-precision analog front-end (AFE) IC embedding machine-learning error correction function, which uses a successive-approximation-register A/D converter with stochastic A/D conversion as a promising circuit technique. This paper describes design and evaluation results of the proto-type AFE IC.
キーワード(和) SAR-ADC / DAC誤差補正 / 確率的A/D変換 / ミスマッチ / 機械学習
キーワード(英) SAR-ADC / DAC error calibration / stochastic A/D conversion / mismatch / machine learning
資料番号 SDM2017-42,ICD2017-30
発行日 2017-07-24 (SDM, ICD)

研究会情報
研究会 SDM / ICD / ITE-IST
開催期間 2017/7/31(から3日開催)
開催地(和) 北海道大学情報教育館
開催地(英) Hokkaido-Univ. Multimedia Education Bldg.
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ(英) Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications
委員長氏名(和) 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 須川 成利(東北大)
委員長氏名(英) Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Hideto Hidaka(Renesas) / Shigetoshi Sugawa(Tohoku Univ.)
副委員長氏名(和) 品田 高宏(東北大) / 永田 真(神戸大) / 浜本 隆之(東京理科大) / 大竹 浩(NHK)
副委員長氏名(英) Takahiro Shinada(Tohoku Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Takayuki Hamamoto(Tokyo University of Science) / Hiroshi Ohtake(NHK)
幹事氏名(和) 黒田 理人(東北大) / 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) / 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 池辺 将之(北大)
幹事氏名(英) Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Tadashi Yamaguchi(Renesas) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masayuki Ikebe(Hokkaido Univ.)
幹事補佐氏名(和) 池田 浩也(静岡大) / 諸岡 哲(東芝メモリ) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大)
幹事補佐氏名(英) Hiroya Ikeda(Shizuoka Univ.) / Tetsu Morooka(TOSHIBA MEMORY) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Group on Information Sensing Technologies
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]確率的A/D変換と誤差補正用機械学習による逐次比較A/D変換器の高精度化
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] SAR A/D Converter Using Stochastic Conversion and Machine-Learning Error Correction
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) SAR-ADC / SAR-ADC
キーワード(2)(和/英) DAC誤差補正 / DAC error calibration
キーワード(3)(和/英) 確率的A/D変換 / stochastic A/D conversion
キーワード(4)(和/英) ミスマッチ / mismatch
キーワード(5)(和/英) 機械学習 / machine learning
第 1 著者 氏名(和/英) 松岡 俊匡 / Toshimasa Matsuoka
第 1 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 鎌田 隆嗣 / Takatsugu Kamata
第 2 著者 所属(和/英) SPChange(略称:SPChange)
SPChange(略称:SPChange)
第 3 著者 氏名(和/英) 植田 昌行 / Masayuki Ueda
第 3 著者 所属(和/英) SPChange(略称:SPChange)
SPChange(略称:SPChange)
第 4 著者 氏名(和/英) 平井 雄作 / Yusaku Hirai
第 4 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 谷 貞宏 / Sadahiro Tani
第 5 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) 浅野 智大 / Tomohiro Asano
第 6 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 7 著者 氏名(和/英) 勇 正大 / Shodai Isami
第 7 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 8 著者 氏名(和/英) 倉田 宗史 / Toshifumi Kurata
第 8 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 9 著者 氏名(和/英) 巽 啓司 / Keiji Tatsumi
第 9 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
発表年月日 2017-08-02
資料番号 SDM2017-42,ICD2017-30
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) SDM-166,ICD-167
ページ範囲 pp.95-100(SDM), pp.95-100(ICD),
ページ数 6
発行日 2017-07-24 (SDM, ICD)