講演名 2017-07-20
[招待講演]テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法
水野 麻弥(NICT), 飯田 仁志(産総研), 木下 基(産総研), 福永 香(NICT), 島田 洋蔵(産総研), 大谷 知行(理研),
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抄録(和) 近年,ミリ波やテラヘルツ波を利用した通信や非破壊検査技術などの研究が進み、それらに関連する様々な材料や試料の複素誘電率を正確に把握することが求められるようになってきた。そこで本研究では,テラヘルツ帯の複素誘電率を測定するために使用される機器のうち,光伝導アンテナを用いたテラヘルツ時間領域分光システムを対象として,測定値のばらつきに関する調査を進め,測定値の信頼性に関して検討を行った.各研究機関が所有する透過型テラヘルツ時間領域分光システム6台を用いて,同一の高抵抗シリコン板を測定し,データのばらつきとその要因について考察した結果と測定例をいくつか紹介する。
抄録(英) Terahertz time-domain spectrometer from approximately 0.1 to 1 THz are frequently used for measuring complex dielectric constants of various materials. We compared the spectral data measured using six transmission-type terahertz time-domain spectrometers to verify the effects of the specifications of each system on the transmittance measurement uncertainty. We prepared high-resistivity silicon plate as a sample and circulated them around the three institutions to measure using each system. In this presentation, we introduce the spectral comparison results and some spectral examples.
キーワード(和) テラヘルツ時間領域分光システム / 複素誘電率 / 測定精度
キーワード(英) Terahertz Time-domain Spectrometer / Complex Dielectric Constant Measurement / Precision Inspection
資料番号 EMT2017-8,MW2017-33,OPE2017-13,EST2017-10,MWP2017-10
発行日 2017-07-13 (EMT, MW, OPE, EST, MWP)

研究会情報
研究会 MWP / OPE / EMT / MW / EST / IEE-EMT
開催期間 2017/7/20(から2日開催)
開催地(和) 帯広商工会議所
開催地(英) Obihiro Chamber of Commerce and Industry
テーマ(和) 光・電波ワークショップ
テーマ(英) Light wave & Electromagnetic Wave Workshop
委員長氏名(和) 川西 哲也(早大) / 加藤 和利(九大) / 廣瀬 明(東大) / 村口 正弘(東京理科大) / 木村 秀明(NTT) / 後藤 啓次(防衛大)
委員長氏名(英) Tetsuya Kawanishi(Waseda Univ.) / Kazutoshi Kato(Kyushu Univ.) / Akira Hirose(Univ. of Tokyo) / Masahiro Muraguchi(TUC) / Hideaki Kimura(NTT) / Keiji Goto(National Defense Academy)
副委員長氏名(和) 吉本 直人(千歳科技大) / 佐藤 功紀(古河電工) / 平山 浩一(北見工大) / 古神 義則(宇都宮大) / 岡崎 浩司(NTTドコモ) / 田島 賢一(三菱電機) / 平田 晃正(名工大) / 大貫 進一郎(日大)
副委員長氏名(英) Naoto Yoshimoto(Chitose Inst. of Science and Tech.) / Kouki Sato(Furukawa Electric Industries) / Koichi Hirayama(Kitami Inst. of Tech.) / Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) / Hiroshi Okazaki(NTTdocomo) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) / Akimasa Hirata(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinichiro Ohnuki(Nihon Univ.)
幹事氏名(和) 菅野 敦史(NICT) / 枚田 明彦(千葉工大) / 荒武 淳(NTT) / 中津原 克己(神奈川工科大) / 阪本 卓也(兵庫県立大) / 黒木 啓之(都立産技高専) / 平野 拓一(東工大) / 中村 宝弘(日立) / 大寺 康夫(東北大) / 江口 真史(千歳科技大) / 出口 博之(同志社大) / 川口 秀樹(室蘭工業大)
幹事氏名(英) Atsushi Kanno(NICT) / Akihiko Hirata(Chiba Inst. of Tech.) / Atsushi Aratake(NTT) / Katsumi Nakatsuhara(Kanagawa Inst. of Tech.) / Takuya Sakamoto(Univ. of Hyogo) / Takashi Kuroki(Tokyo Metro. Coll. of Tech) / Takuichi Hirano(Tokyo Inst. of Tech.) / Takahiro Nakamura(HITACHI) / Yasuo Otera(Tohoku Univ.) / Masashi Eguchi(CIST) / Hiroyuki Deguchi(Doshisha Univ.) / Hideki Kawaguchi(Muroran Inst. Tech.)
幹事補佐氏名(和) 西村 公佐(KDDI研) / 池田 研介(電中研) / 種村 拓夫(東大) / 松岡 剛志(九州産大) / 小野 哲(電通大) / 本良 瑞樹(東北大) / 伊藤 孝弘(名工大) / 藤田 和広(富士通) / 中 良弘(九州保健福祉大)
幹事補佐氏名(英) Kosuke Nishimura(KDDI) / Kensuke Ikeda(CRIEPI) / Takuo Tanemura(Univ. of Tokyo) / Tsuyoshi Matsuoka(Kyushu Sangyo Univ.) / Satoshi Ono(Univ. of Electro-Comm.) / Mizuki Motoyoshi(Tohoku Univ.) / Takahiro Ito(Nagoya Inst. of Tech.) / Kazuhiro Fujita(Fujitsu) / Yoshihiro Naka(KUHW)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Microwave and Millimeter-wave Photonics / Technical Committee on OptoElectronics / Technical Committee on Electromagnetic Theory / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electronics Simulation Technology / Technical Meeting on Electromagnetic Theory
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]テラヘルツ時間領域分光システムを用いた誘電率測定の精度調査とその活用方法
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] Precision Inspection of Dielectric Constant Measurement Using Terahertz Time-domain Spectroscopy System and Its Application
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ時間領域分光システム / Terahertz Time-domain Spectrometer
キーワード(2)(和/英) 複素誘電率 / Complex Dielectric Constant Measurement
キーワード(3)(和/英) 測定精度 / Precision Inspection
第 1 著者 氏名(和/英) 水野 麻弥 / Maya Mizuno
第 1 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 2 著者 氏名(和/英) 飯田 仁志 / Hitoshi Iida
第 2 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 木下 基 / Moto Kinoshita
第 3 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 4 著者 氏名(和/英) 福永 香 / Kaori Fukunaga
第 4 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 5 著者 氏名(和/英) 島田 洋蔵 / Yozo Shimada
第 5 著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所(略称:産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称:AIST)
第 6 著者 氏名(和/英) 大谷 知行 / Chiko Otani
第 6 著者 所属(和/英) 理化学研究所(略称:理研)
RIKEN(略称:RIKEN)
発表年月日 2017-07-20
資料番号 EMT2017-8,MW2017-33,OPE2017-13,EST2017-10,MWP2017-10
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) EMT-139,MW-140,OPE-141,EST-142,MWP-143
ページ範囲 pp.11-16(EMT), pp.11-16(MW), pp.11-16(OPE), pp.11-16(EST), pp.11-16(MWP),
ページ数 6
発行日 2017-07-13 (EMT, MW, OPE, EST, MWP)