| 講演名 | 2017-06-20 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について 松永 裕介(九大), |
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| 抄録(和) | 本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． 通常のSATソルバを用いた手法では故障を検出する論理的な制約を 満たすテストパタンが唯一得られるだけで信号遷移回数のコントロールを 行うことはできない． そこで，テストパタン生成問題を表すCNF式にランダムに生成した式を追加 することで元の問題に対するランダムサンプリングを行う手法を用いて テストパタンのランダムサンプリングを行うアルゴリズムを提案する． 生成された複数のパタンの中から信号遷移回数や消費電力などの尺度 で優れたパタンを選択することで従来不可能であったSATソルバを 用いたテストパタン生成において解の質をコントロールすることが 可能となっている． |
| 抄録(英) | This paper presents a test pattern generation method with considering signal transition activities using a SAT solver. A simple SAT based test pattern generation method can only find a single pattern per a fault, which does not consider the signal transition activities. The proposed method employs a randam sampling algorithm for SAT problem, which adds randomly generated constraints to the original problem. The proposed method can generate arbitary number of test patterns for one fault, so that the user can select the best one among those patterns with respect to signal transition activities or power consumption. |
| キーワード(和) | テストパタン生成 / 信号遷移回数 / SAT / ランダムサンプリング |
| キーワード(英) | test pattern generation / signal transition activity / SAT / random sampling |
| 資料番号 | CAS2017-21,VLD2017-24,SIP2017-45,MSS2017-21 |
| 発行日 | 2017-06-12 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIP / CAS / MSS / VLD |
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| 開催期間 | 2017/6/19(から2日開催) |
| 開催地（和） | 新潟大学五十嵐キャンパス 中央図書館ライブラリーホール |
| 開催地（英） | Niigata University, Ikarashi Campus |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 奥田 正浩(北九州市大) / 平木 充(ルネサス エレクトロニクス) / 名嘉村 盛和(琉球大) / 越智 裕之(立命館大) |
| 委員長氏名（英） | Masahiro Okuda(Univ. of Kitakyushu) / Mitsuru Hiraki(Renesas) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 村松 正吾(新潟大) / 相川 直幸(東京理科大) / 岡崎 秀晃(湘南工科大) / 髙井 重昌(阪大) / 峯岸 孝行(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Shogo Muramatsu(Niigata Univ.) / Naoyuki Aikawa(TUS) / Hideaki Okazaki(Shonan Inst. of Tech.) / Shigemasa Takai(Osaka Univ.) / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 宮田 高道(千葉工大) / 渡邊 修(拓殖大) / 山口 基(ルネサスシステムデザイン) / 橘 俊宏(湘南工科大) / 豊嶋 伊知郎(東芝) / 金澤 尚史(阪大) / 永山 忍(広島市大) / 宮崎 昭彦(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) / Motoi Yamaguchi(Renesas) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Takahumi Kanazawa(Osaka Univ.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Akihiko Miyazaki(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 中本 昌由(広島大) / 中村 洋平(日立) / 金城 秀樹(沖縄大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masayoshi Nakamoto(Hiroshima Univ.ひろ) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Signal Processing / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 信号遷移回数を考慮したテストパタン生成のためのSAT問題のサンプリング手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | SAT model sampling for test pattern generation considering signal transition activities |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパタン生成 / test pattern generation |
| キーワード(2)（和/英） | 信号遷移回数 / signal transition activity |
| キーワード(3)（和/英） | SAT / SAT |
| キーワード(4)（和/英） | ランダムサンプリング / random sampling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 発表年月日 | 2017-06-20 |
| 資料番号 | CAS2017-21,VLD2017-24,SIP2017-45,MSS2017-21 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | CAS-96,VLD-97,SIP-98,MSS-99 |
| ページ範囲 | pp.107-112(CAS), pp.107-112(VLD), pp.107-112(SIP), pp.107-112(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-06-12 (CAS, VLD, SIP, MSS) |