| 講演名 | 2017-04-21 低バイアス領域における固有ジョセフソン接合のテラヘルツ発振状態の数値的検討 立木 隆(防衛大), 内田 貴司(防衛大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | SCE2017-8 |
| 発行日 | 2017-04-14 (SCE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 2017/4/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | デバイス関係、薄膜、一般 |
| テーマ（英） | Devices, Thin film, etc. |
| 委員長氏名（和） | 吉川 信行(横浜国大) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyuki Yoshikawa(Yokohama National Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 立木 隆(防衛大) / 成瀬 雅人(埼玉大) |
| 幹事氏名（英） | Takashi Tachiki(National Defense Academy) / Masato Naruse(Saitama Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 赤池 宏之(名大) / 山梨 裕希(横浜国大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hiroyuki Akaike(Nagoya Univ.) / Yuki Yamanashi(Yokohama National Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Superconductive Electronics |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 低バイアス領域における固有ジョセフソン接合のテラヘルツ発振状態の数値的検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Numerical investigation on THz oscillation states of intrinsic Josephson junctions in the low bias region |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 立木 隆 / Takashi Tachiki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 防衛大学校(略称：防衛大) National Defense Academy(略称：NDA) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 内田 貴司 / Takashi Uchida |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 防衛大学校(略称：防衛大) National Defense Academy(略称：NDA) |
| 発表年月日 | 2017-04-21 |
| 資料番号 | SCE2017-8 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | SCE-10 |
| ページ範囲 | pp.41-46(SCE), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-04-14 (SCE) |