講演名 2017-03-02
ネットワーク侵入検知のためのスクリーニング回路に対する最適スクリーニングパターン生成について
橋本 智明(広島市大), 永山 忍(広島市大), 稲木 雅人(広島市大), 若林 真一(広島市大),
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抄録(和) 先行研究で我々は,ネットワーク上を流れるパケットに対して高速にスクリーニングを行う専用回路を提案した.本稿では,その専用回路に対する最適なスクリーニングパターンの生成方法を提案する.提案手法は,不正パケットの見逃しを起こさずに,スクリーニングパターン回路のサイズを削減するための発見的手法である.提案手法の有効性を評価するために,先行研究で用いられたスクリーニングパターンと提案手法で得られたスクリーニングパターンを比較し,提案手法により生成されたパターンを用いることで,スクリーニング回路のサイズを大幅に削減できることを示す.
抄録(英) In our previous study, we proposed a dedicated circuit, called a screening circuit, that screens packes on a network at high speed. This paper proposes a method to generate optimum screening patterns for the screening circuit. The proposed method is a heuristic to reduce the size of the screening circuit without overlooking malicious packets. To evaluate the effectiveness of the proposed method, we compare patterns generated by the proposed method with those used in our previous study. Comparison results show that the size of screening circuit can be reduced significantly by using the patterns generated by the proposed method.
キーワード(和) NIDS / ストリングマッチング / 正規表現 / 不正侵入 / スクリーニングパターン
キーワード(英) NIDS / string matching / regular expression / network intrusions / screening patterns
資料番号 VLD2016-108
発行日 2017-02-22 (VLD)

研究会情報
研究会 VLD
開催期間 2017/3/1(から3日開催)
開催地(和) 沖縄県青年会館
開催地(英) Okinawa Seinen Kaikan
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術
テーマ(英)
委員長氏名(和) 竹中 崇(NEC)
委員長氏名(英) Takashi Takenana(NEC)
副委員長氏名(和) 越智 裕之(立命館大)
副委員長氏名(英) Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.)
幹事氏名(和) 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大)
幹事氏名(英) Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.)
幹事補佐氏名(和) Parizy Matthieu(富士通研)
幹事補佐氏名(英) Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies
本文の言語 JPN
タイトル(和) ネットワーク侵入検知のためのスクリーニング回路に対する最適スクリーニングパターン生成について
サブタイトル(和)
タイトル(英) Generation of Optimum Screening Patterns for a Screening Circuit to Detect Network Intrusion
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) NIDS / NIDS
キーワード(2)(和/英) ストリングマッチング / string matching
キーワード(3)(和/英) 正規表現 / regular expression
キーワード(4)(和/英) 不正侵入 / network intrusions
キーワード(5)(和/英) スクリーニングパターン / screening patterns
第 1 著者 氏名(和/英) 橋本 智明 / Tomoaki Hashimoto
第 1 著者 所属(和/英) 広島市立大学大学院(略称:広島市大)
Graduate school of Hiroshima City University(略称:Hiroshima City Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 永山 忍 / Shinobu Nagayama
第 2 著者 所属(和/英) 広島市立大学大学院(略称:広島市大)
Graduate school of Hiroshima City University(略称:Hiroshima City Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 稲木 雅人 / Masato Inagi
第 3 著者 所属(和/英) 広島市立大学大学院(略称:広島市大)
Graduate school of Hiroshima City University(略称:Hiroshima City Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 若林 真一 / Shin'ichi Wakabayashi
第 4 著者 所属(和/英) 広島市立大学大学院(略称:広島市大)
Graduate school of Hiroshima City University(略称:Hiroshima City Univ.)
発表年月日 2017-03-02
資料番号 VLD2016-108
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) VLD-478
ページ範囲 pp.37-42(VLD),
ページ数 6
発行日 2017-02-22 (VLD)