| 講演名 | 2017-03-02 ウエハスケールマスクROMの階層的データ読み出し回路の高信頼化 横山 高明(立命館大), 越智 裕之(立命館大), |
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| 抄録(和) | 現在，先進諸国の国立図書館などにおいて，大容量のデータを長期間にわたってデジタル形式で保管する需要があるが，既存のメディアの寿命は10年から200年程度とアナログ媒体の寿命と比較して非常に短い．そこで，その問題の解決策としてマスクROM を用いたデータの恒久保存可能メディアが提案されている． 本論文では，ウエハスケールマスクROMで用いられているH-treeアーキテクチャ内で階層的読み出し動作の制御を行っているBinary Sequencerを改良したモジュールを提案する．また，従来型BSと2つの提案するBSを効果的に組み合わせたH-treeアーキテクチャへの適用法も提案し，信頼性と面積のトレードオフについて評価を行う． |
| 抄録(英) | In the national libraries of developed countries, there is a demand to store large amounts of data in a digital form over a long period of time, but the lifetime of existing media is about 10 to 200 years, which is very short compared with that of analog media. As a solution to the problem, a media which permanently stores data using mask ROM has been proposed. In this paper, we propose a modified Binary Sequencer which controls hierarchical read operation within the H-tree architecture used in wafer scale mask ROM. We also propose an effective method for implementing the H-tree architecture by combining two kind of proposed BS with conventional BS, and evaluated trade-off between reliability and area. |
| キーワード(和) | H-treeアーキテクチャ / パワーゲーティング / 三重化 / 時間制限 / 長寿命デジタル保存メディア |
| キーワード(英) | H-tree architecture / power gating / TMR / WDT / long-term digital storage media |
| 資料番号 | VLD2016-110 |
| 発行日 | 2017-02-22 (VLD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2017/3/1(から3日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ウエハスケールマスクROMの階層的データ読み出し回路の高信頼化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability enhancement of Hierarchical data reading circuit of Wafer scale mask ROM |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | H-treeアーキテクチャ / H-tree architecture |
| キーワード(2)（和/英） | パワーゲーティング / power gating |
| キーワード(3)（和/英） | 三重化 / TMR |
| キーワード(4)（和/英） | 時間制限 / WDT |
| キーワード(5)（和/英） | 長寿命デジタル保存メディア / long-term digital storage media |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 横山 高明 / Takaaki Yokoyama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越智 裕之 / Ochi Hiroyuki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 立命館大学(略称：立命館大) Ritsumeikan University(略称：Ritsumeikan Univ) |
| 発表年月日 | 2017-03-02 |
| 資料番号 | VLD2016-110 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | VLD-478 |
| ページ範囲 | pp.49-54(VLD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-02-22 (VLD) |