| 講演名 | 2017-02-21 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討 柚留木 大地(大分大), 大竹 哲史(大分大), 中村 芳行(ルネサス システムデザイン), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる．LSIの品質を保ちつつ，テストコストを削減する手法が望まれている．本研究では，機械学習を用いてこれを実現することを検討する．具体的には，過去のLSIテストデータから不良LSIを学習し，新たに製造したLSIについて，途中までのテスト結果から正常品か不良品かを予測する．すなわち，そのLSIの残りのテストにかかるコスト分を削減することができる．本稿では，テストコスト削減に向けて正常品と不良品の判別精度を高めるための手法を提案し，その有効性を実験により評価する． |
| 抄録(英) | Today, advancements of semiconductor technology have progress to high integration of LSI circuits. A technique which keeps quality of LSIs and reduces test cost is necessary. In this work, we tackle this problem with machine learning techniques: learning test results of LSIs by machine learning from the test data of LSIs produced in the past, and prediction if a newly produced LSI is good or defective using intermediate test results of the LSI, i.e, the cost of remaining tests for the LSI can be reduced. In this paper, we propose several techniques for distinction precision of good products and defective products for the test cost reduction and evaluate them by performing experiments. |
| キーワード(和) | データマイニング / クラスタリング / 判別分析 / LSIテスト |
| キーワード(英) | Data mining / clustering / discriminant analysis / LSI testing |
| 資料番号 | DC2016-77 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2017/2/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Approach to Performance Improvement of Machine Learning Based Fail Chip Discrimination |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | データマイニング / Data mining |
| キーワード(2)（和/英） | クラスタリング / clustering |
| キーワード(3)（和/英） | 判別分析 / discriminant analysis |
| キーワード(4)（和/英） | LSIテスト / LSI testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 柚留木 大地 / Daichi Yuruki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | ルネサスシステムデザイン株式会社(略称：ルネサス システムデザイン) Renesas System Design Co., Ltd.(略称：Renesas System Design) |
| 発表年月日 | 2017-02-21 |
| 資料番号 | DC2016-77 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | DC-466 |
| ページ範囲 | pp.17-22(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |