| 講演名 | 2017-02-21 Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems 岩垣 剛(広島市大), 猪谷 孝太(広島市大), 市原 英行(広島市大), 井上 智生(広島市大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | This paper discusses delay-robustness of a four-phase dual-rail asynchronous system at register transfer level (RTL). A type of RTL delay faults, which can be caused by the stress during operations in the field and correspond to aging-induced degradation, is introduced to analyze delay-robustness of such a system. Since data transfer between registers is realized by the interaction between the controller and datapath of an asynchronous system, i.e., by handshaking, the effect of any delay fault never causes system failure but can lead to performance degradation of the system. In this paper, it is pointed out that operational unit binding in high-level synthesis for asynchronous systems affects their delay-robustness in terms of performance degradation through several design examples. The future direction of operational unit binding is also discussed to obtain asynchronous systems with high delay-robustness. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Four-phase dual-rail asynchronous systemAging-induced degradationRTL delay faultDelay-robustnessOp- erational unit binding |
| 資料番号 | DC2016-78 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2017/2/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Impact of Operational Unit Binding on Aging-induced Degradation in High-level Synthesis for Asynchronous Systems |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Four-phase dual-rail asynchronous systemAging-induced degradationRTL delay faultDelay-robustnessOp- erational unit binding |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 広島市立大学(略称：広島市大) Hiroshima City University(略称：Hiroshima City Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 猪谷 孝太 / Kohta Itani |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 広島市立大学(略称：広島市大) Hiroshima City University(略称：Hiroshima City Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 広島市立大学(略称：広島市大) Hiroshima City University(略称：Hiroshima City Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 智生 / Tomoo Inoue |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 広島市立大学(略称：広島市大) Hiroshima City University(略称：Hiroshima City Univ.) |
| 発表年月日 | 2017-02-21 |
| 資料番号 | DC2016-78 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | DC-466 |
| ページ範囲 | pp.23-28(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |