| 講演名 | 2017-02-17 薄膜スライド接点における摺動摩耗抑制 山本 勇樹(オムロン), 梅内 芳浩(オムロン), 森井 真喜人(オムロンスイッチアンドデバイス), |
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| 抄録(和) | 電気接点における接点損耗は大別すると機械的摩耗と電気的消耗の２つに分けられる。機械的摩耗に関しては、Holm等によって接点硬度と摩耗量の関係が確認されてきた。しかしながら、厚さ数ミクロン以下の薄膜金属を接点として扱う場合には、ビッカース等の従来測定方法では精度の良いデータを得るのが困難であり、バルク材での検討のように接点硬度と摩耗量の相関を得ることが難しかった。本検討では、薄膜金属の硬度をより精度良く測定する手法としてナノインデンテーション法による硬度測定を見出した。その結果、薄膜接点の硬度と摩耗量の相関が測れるようになり、接点硬度によるスライド接点の摩耗抑制が可能となった。 |
| 抄録(英) | Contact wear at electrical contacts is roughly classified into mechanical wear and electrical wear. Regarding mechanical wear, the relationship between contact hardness and wear has been confirmed by Holm[1]. However, when the contact thickness becomes thin to several microns or less, it is difficult to measure by the conventional measurement method such as Vickers, and it was difficult to obtain the correlation between the contact hardness and the wear amount as in the bulk material study. Therefore, in this study, we have found the Nano-indentation as a more accurately measurement method for hardness of the thin film metal. As a result, the correlation between the hardness of the thin film contacts and the wear amount was clarified, and the wear of the sliding contact can be controlled by the contact hardness. |
| キーワード(和) | スライド接点 / 摺動摩耗 / 硬度 / ナノインデンテーション |
| キーワード(英) | Sliding Contact / Mechanical Wear / Hardness / Nano-Indentation |
| 資料番号 | R2016-62,EMD2016-89 |
| 発行日 | 2017-02-10 (R, EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD / R |
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| 開催期間 | 2017/2/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | オムロン草津事業所 |
| 開催地（英） | Omuron Kusatsu Factory |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 阿部 宜輝(NTT) / 馬渡 宏泰(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Yoshiteru Abe(NTT) / Hiroyasu Mawatari(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | / 弓削 哲史(防衛大) |
| 副委員長氏名（英） | / Tetsushi Yuge(National Defense Academy) |
| 幹事氏名（和） | 澤田 滋(住友電装) / 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 安里 彰(富士通) / 岡村 寛之(広島大) |
| 幹事氏名（英） | Shigeru Sawada(Sumitomo Denso) / Kenji Suzuki(Fujielectric) / Akira Asato(Fujitsu) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) / 林 優一(東北学院大) / マラット ザニケエフ(九工大) / 田村 信幸(法政大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Yuichi Hayashi(Tohoku Gakuin Univ.) / Maratt Zanikef(Kyushu Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 薄膜スライド接点における摺動摩耗抑制 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Contorol of sliding wear for thin film sliding contacts. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スライド接点 / Sliding Contact |
| キーワード(2)（和/英） | 摺動摩耗 / Mechanical Wear |
| キーワード(3)（和/英） | 硬度 / Hardness |
| キーワード(4)（和/英） | ナノインデンテーション / Nano-Indentation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山本 勇樹 / Yuki Yamamoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | オムロン株式会社(略称：オムロン) Omron Corporation(略称：Omron) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梅内 芳浩 / Yoshihiro Umeuchi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | オムロン株式会社(略称：オムロン) Omron Corporation(略称：Omron) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 森井 真喜人 / Makito Morii |
| 第 3 著者 所属（和/英） | オムロンスイッチアンドデバイス株式会社(略称：オムロンスイッチアンドデバイス) OMRON SWITCH & DEVICES Corporation(略称：OES) |
| 発表年月日 | 2017-02-17 |
| 資料番号 | R2016-62,EMD2016-89 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | R-458,EMD-459 |
| ページ範囲 | pp.15-18(R), pp.15-18(EMD), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2017-02-10 (R, EMD) |