| 講演名 | 2017-02-21 論理回路の組込み自己診断に関する提案 香川 敬祐(愛媛大), 矢野 郁也(愛媛大), 王 森レイ(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大), 高橋 寛(愛媛大), 大竹 哲史(大分大), |
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| 抄録(和) | 近年，自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している．自動車の機能安全を保証するためには，フィールド上で車載システムのテストを行うパワーオンセルフテスト(Power On Self Test :POST)のための要素技術の開発が望まれている．POSTにおいては，制限されたテストパターン数のもとで，規定された故障検出率に達することを目的とする組込み自己テスト技術の開発が進んでいる．さらに，POSTにおいて，長期の機能安全を確保するために故障検出だけでなく被疑故障箇所を指摘する組込み自己診断(Built-In Self Diagnosis: BISD)の要素技術の開発が望まれている．そこで，本稿では，BISDにおいて解決しなければならない課題を議論し，新しいBISD機構を提案する．提案する機構では，被検査回路上で故障を検出するだけではなく，予め登録した故障の中から故障候補も指摘できる．そのために，提案する機構では，診断用署名生成器および診断用署名に基づく故障候補の指摘器を新たに導入する．そして最後に，予備実験を行い診断用署名・被疑故障署名の圧縮と故障診断能力の関係を評価する． |
| 抄録(英) | Recently, roles of automotive LSI to realize a functional safety of vehicle are increasing. In order to guarantee the functional safety, developing the component technologies for Power On Self Test (POST) to test the vehicle system in the field is desirable. For POST, Built-In Self Test technologies that can achieve the specificed/expect fault coverage with limited patterns are developing. Moreover, it is believed that a Built-In Self Diagnosis (BISD) technology for POST that can not only detect faults but also locate the faults will be crucial to ensure the long-term functional safety. In this paper, we indictate the problems that have to be solved for BISD, and propose a new BISD architecture. In the proposed architecture, it can not only detect faults on the CUT but also indicate fault candidates from a prestored faults index. For this purpose, we introduce a new diagnostic signature generator and the circuit to indicate the fault candidate based on the diagnostic signatures. Finally, we evaluate the relationships between the compression of diagnostic signature/suspected fault signature and fault diagnosis capability. |
| キーワード(和) | 組込み自己診断 / 診断用署名 / 故障診断能力 |
| キーワード(英) | Built-In Self Diagnosis / diagnostic signature / fault diagnosis capability |
| 資料番号 | DC2016-76 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2017/2/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 論理回路の組込み自己診断に関する提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Built-In Self Diagnosis Architecture for Logic Design |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己診断 / Built-In Self Diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | 診断用署名 / diagnostic signature |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断能力 / fault diagnosis capability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 香川 敬祐 / Keisuke Kagawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 矢野 郁也 / Fumiya Yano |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling Wang |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 愛媛大学(略称：愛媛大) Ehime University(略称：Ehime Univ.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 発表年月日 | 2017-02-21 |
| 資料番号 | DC2016-76 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | DC-466 |
| ページ範囲 | pp.11-16(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-02-14 (DC) |