| 講演名 | 2017-01-26 大型ディスプレイにおけるゲート遅延評価 月井 千尋(九大), 沈 昌勲(九大), 服部 励治(九大), |
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| 抄録(和) | 本研究では，アクティブマトリクス液晶ディスプレイ(AMLCD)及びアクティブマトリクス有機ELディスプレイ(AMOLED)の1サブピクセルあたりのゲート線抵抗，ゲート線と各電極間の容量抽出を行い，大型ディスプレイにおいて顕著に生じるゲート遅延の影響を分布RC線路で考え，SPICEシミュレーションによって検討した．その結果，4K以上の大型高精細ディスプレイでは選択TFTの選択時間よりもゲート信号立ち上がり時の時定数が大きくなり，ゲート信号波形の鈍りが無視できない．したがって，ゲートドライバ，ソースドライバをディスプレイの両側に配置し，ディスプレイを4分割駆動し，負荷を低減させ，選択時間を拡大する方法が必須であることが分かった． |
| 抄録(英) | In this study, we have extracted the gate line resistance and the parasitic capacitance per subpixel of active matrix liquid crystal display (AMLCD) and active matrix organic light-emitting diode display (AMOLED). Furthermore, we investigated the effect of gate delay on distributed RC line by SPICE simulation. As a result, in a large high-definition display of 4 K or more, the time constant at the rising of the gate signal becomes larger than the select time of the switching TFT, so that the dullness of the gate signal waveform cannot be ignored. Therefore, it is necessary to arrange the gate driver and the source driver on both sides of the display and drive the display in quarters. With these methods, the load can be reduced and the select time can be expanded. |
| キーワード(和) | ゲート遅延 / 分布RC線路 |
| キーワード(英) | Gate delay / Distributed RC line / 4K / 8K / AMLCD / AMOLED / TFT |
| 資料番号 | EID2016-32 |
| 発行日 | 2017-01-19 (EID) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID / ITE-IDY / IEE-EDD / IEIJ-SSL / SID-JC |
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| 開催期間 | 2017/1/26(から2日開催) |
| 開催地（和） | 徳島大学 |
| 開催地（英） | Tokushima Univ. |
| テーマ（和） | 発光型／非発光型ディスプレイ合同研究会 |
| テーマ（英） | Joint Meeting of Emissive/Non-emissive Displays |
| 委員長氏名（和） | 志賀 智一(電通大) / 別井 圭一(日立) |
| 委員長氏名（英） | Tomokazu Shiga(Univ. of Electro-Comm.) / Keiichi Betsui(Hitachi) |
| 副委員長氏名（和） | 木村 睦(龍谷大) / 小南 裕子(静岡大) / 藤崎 好英(NHK) |
| 副委員長氏名（英） | Mutsumi Kimura(Ryukoku Univ.) / Yuko Kominami(Shizuoka Univ.) / Yoshihide Fujisaki(NHK) |
| 幹事氏名（和） | 伊達 宗和(NTT) / 山口 雅浩(東工大) / 中村 篤志(静岡大) |
| 幹事氏名（英） | Munekazu Date(NTT) / Masahiro Yamaguchi(Tokyo Inst. of Tech.) / Atsushi Nakamura(Shizuoka Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山口 留美子(秋田大) / 新田 博幸(ジャパンディスプレイ) / 中田 充(NHK) / 小尻 尚志(日本ゼオン) / 野中 亮助(東芝) |
| 幹事補佐氏名（英） | Rumiko Yamaguchi(Akita Univ.) / Hiroyuki Nitta(Japan Display) / Mitsuru Nakata(NHK) / Takashi Kojiri(ZEON) / Ryosuke Nonaka(Toshiba) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electronic Information Displays / Technical Group on Information Display / Technical Group on Electron Devices / * / Society for Information Display Japan Chapter |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 大型ディスプレイにおけるゲート遅延評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Gate delay evaluation in a large-sized display |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ゲート遅延 / Gate delay |
| キーワード(2)（和/英） | 分布RC線路 / Distributed RC line |
| キーワード(3)（和/英） | / 4K |
| キーワード(4)（和/英） | / 8K |
| キーワード(5)（和/英） | / AMLCD |
| キーワード(6)（和/英） | / AMOLED |
| キーワード(7)（和/英） | / TFT |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 月井 千尋 / Chihiro Tsukii |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 沈 昌勲 / Chang-Hoon Shim |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 服部 励治 / Reiji Hattori |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 発表年月日 | 2017-01-26 |
| 資料番号 | EID2016-32 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | EID-430 |
| ページ範囲 | pp.29-32(EID), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2017-01-19 (EID) |