| 講演名 | 2016-12-15 バッテリーマネジメント向け56段階、50mV刻みプログラマブル電圧検出回路 染谷 晃基(東大), 松永 賢一(NTT), 森村 浩季(NTT), 桜井 貴康(東大), 高宮 真(東大), |
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| 抄録(和) | 本稿ではバッテリーマネジメントに向けた，検出電圧（VDETECT）のプログラマビリティを持つ超低消費電力プログラマブル電圧検出回路(PVD)を提案する．バッテリーマネジメントにおけるPVDは，バッテリーを精度よく充放電するために±1%未満の検出精度が要求される．本稿で提案するPVDは，1.88Vから4.67VのVDETECTを50mVの解像度で等間隔に56レベルプログラムすることを可能とした．提案するPVDは，動的にVDETECTを変更するVDETECTホッピングを可能とし，単一のPVDにより複数のVDETECTを検出可能である．結果としてバッテリーマネジメントに必要となる電圧検出回路の個数を削減し，コストと面積を改善する．提案するPVDは2.5V/5V，250nm CMOSプロセスで実装された．実測における消費電力は，3.5Vの電源電圧供給下で13nWであり，-20℃から80℃のチップ温度変化におけるVDETECTの温度係数は0.17mV/℃である． |
| 抄録(英) | A programmable voltage detector (PVD) for the battery management is developed for the first time. In battery management applications, PVD’s with fine voltage resolution (<±1% of battery voltage) are required to precisely control the charging and discharging of the battery and to provide a universal voltage detector. The proposed fine voltage-step subtraction (FVS) method in PVD enables the wide detection voltage (VDETECT) range from 1.88V to 4.67V, fine VDETECT resolution of 50mV, and the 56-level linear programmability. Compared with previous publications, the 50-mV resolution is the smallest and the 56-level programmability is the largest. The programmability of VDETECT enables a VDETECT hopping capability achieving time-varying VDETECT to reduce the number of voltage detectors in the battery management system. PVD fabricated in 5V, 250-nm CMOS process shows the measured power consumption of 13nW at 3.5V and the temperature coefficient of 0.17mV/°C in -20°C to 80°C. |
| キーワード(和) | 電圧検出回路 / バッテリーマネジメント / フィールドプログラマビリティ |
| キーワード(英) | Voltage detector / Battery management / Field programmability |
| 資料番号 | ICD2016-51,CPSY2016-57 |
| 発行日 | 2016-12-08 (ICD, CPSY) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / CPSY |
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| 開催期間 | 2016/12/15(から2日開催) |
| 開催地（和） | 東京工業大学 |
| 開催地（英） | Tokyo Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 吉田 毅(広島大) / 高宮 真(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) |
| 幹事氏名（英） | Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) |
| 幹事補佐氏名（和） | 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | バッテリーマネジメント向け56段階、50mV刻みプログラマブル電圧検出回路 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 56-Level Programmable Voltage Detector in Steps of 50mV for Battery Management |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電圧検出回路 / Voltage detector |
| キーワード(2)（和/英） | バッテリーマネジメント / Battery management |
| キーワード(3)（和/英） | フィールドプログラマビリティ / Field programmability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 染谷 晃基 / Teruki Someya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 松永 賢一 / Kenichi Matsunaga |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 森村 浩季 / Hiroki Morimura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 桜井 貴康 / Takayasu Sakurai |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 高宮 真 / Makoto Takamiya |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 発表年月日 | 2016-12-15 |
| 資料番号 | ICD2016-51,CPSY2016-57 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | ICD-364,CPSY-365 |
| ページ範囲 | pp.1-5(ICD), pp.1-5(CPSY), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-12-08 (ICD, CPSY) |