| 講演名 | 2016-12-15 ［ポスター講演］ストレージ・クラス・メモリで構成したSSDの信頼性を考慮した性能の評価 安達 優(中大), 瀧下 博文(中大), 竹内 健(中大), |
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| 抄録(和) | ストレージ・クラス・メモリ(SCM)はNAND型フラッシュメモリよりも高速な不揮発性メモリである．将来的にストレージとして利用できるまでに安価になると考えられるSCMを用いることにより、SSDの性能が向上することが見込まれる．SCMで構成されたSSDにおいてもビットエラーは避けられないので，データの信頼性を保証するために，書き込み時のベリファイやデータの誤り訂正が行われる．しかし，これらによる処理時間の増大は，SSDの性能の低下を引き起こしてしまう．本論文では，SCMのみで構成されたSSDにおいて、信頼性を考慮するために書き込みベリファイや誤り訂正符号を用いたSSDの性能評価を行った． |
| 抄録(英) | The future Storage Class Memory (SCM) is equivalent to NAND Flash in terms of cost. SCM is high performance compared with NAND Flash, which is non-volatile memory. Therefore, Solid State Drive (SSD) performance will be improved by using SCM. However, in SCM, bit error is inevitable. The bit error rate is improved by verify write, which extend write time. In addition, error-correcting code (ECC) is used for data reliability, which requires long calculation time. Thus, verify write and ECC degrade SSD performance. In this paper, SCM-based SSD performance is analyzed in consideration of verify write and ECC. |
| キーワード(和) | ストレージ・クラス・メモリ(SCM) / ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / ベリファイ / 誤り訂正符号(ECC) |
| キーワード(英) | Storage Class Memory(SCM) / Solid State Drive(SSD) / verify / error-correcting code(ECC) |
| 資料番号 | ICD2016-68,CPSY2016-74 |
| 発行日 | 2016-12-08 (ICD, CPSY) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / CPSY |
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| 開催期間 | 2016/12/15(から2日開催) |
| 開催地（和） | 東京工業大学 |
| 開催地（英） | Tokyo Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 吉田 毅(広島大) / 高宮 真(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) |
| 幹事氏名（英） | Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) |
| 幹事補佐氏名（和） | 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［ポスター講演］ストレージ・クラス・メモリで構成したSSDの信頼性を考慮した性能の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Performance Evaluation of Storage Class Memory based SSD in Consideration of Reliability |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ストレージ・クラス・メモリ(SCM) / Storage Class Memory(SCM) |
| キーワード(2)（和/英） | ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / Solid State Drive(SSD) |
| キーワード(3)（和/英） | ベリファイ / verify |
| キーワード(4)（和/英） | 誤り訂正符号(ECC) / error-correcting code(ECC) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 安達 優 / Yutaka Adachi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 瀧下 博文 / Hirofumi Takishita |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 竹内 健 / Ken Takeuchi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-12-15 |
| 資料番号 | ICD2016-68,CPSY2016-74 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | ICD-364,CPSY-365 |
| ページ範囲 | pp.55-55(ICD), pp.55-55(CPSY), |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2016-12-08 (ICD, CPSY) |