| 講演名 | 2016-11-17 最尤推定法を使った製造条件範囲の最適化 松岡 敏成(三菱電機), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2016-51 |
| 発行日 | 2016-11-10 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
|---|---|
| 開催期間 | 2016/11/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | 大阪中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Osaka Central Electric Club Bldg. |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般（共催：日本信頼性学会関西支部） |
| テーマ（英） | Reliability for semiconductors and electronics devices, Overall reliability engineering (co-organized by Reliability Engineering Association of Japan Kansai Branch) |
| 委員長氏名（和） | 馬渡 宏泰(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyasu Mawatari(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 弓削 哲史(防衛大) |
| 副委員長氏名（英） | Tetsushi Yuge(National Defense Academy) |
| 幹事氏名（和） | 安里 彰(富士通) / 岡村 寛之(広島大) |
| 幹事氏名（英） | Akira Asato(Fujitsu) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | マラット ザニケエフ(九工大) / 田村 信幸(法政大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Maratt Zanikef(Kyushu Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 最尤推定法を使った製造条件範囲の最適化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optimization of The Production condition range based on maximum likelihood estimation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松岡 敏成 / Toshinari Matsuoka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 三菱電機株式会社(略称：三菱電機) Mitsubishi Electric Corporation(略称：MELCO) |
| 発表年月日 | 2016-11-17 |
| 資料番号 | R2016-51 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | R-301 |
| ページ範囲 | pp.13-18(R), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-11-10 (R) |