| 講演名 | 2016-11-30 SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について 松永 裕介(九大), |
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| 抄録(和) | 本稿では信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタンを生成する SATソルバを用いた手法について考察を行う． 通常のSATソルバを用いた手法では故障を検出する論理的な制約を 満たすテストパタンが唯一得られるだけで信号遷移回数のコントロールを 行うことはできない． そこで，SATを用いたテストパタン生成アルゴリズムに修正を行って， 故障検出を行うパタンの集合を積和形論理式の形で出力し， そこからランダムサンプリングを行い， そのなかから信号遷移回数の少ないパタンを選択する手法を提案する． |
| 抄録(英) | This paper presents a test pattern generation method with considering signal transition activities using a SAT solver. A simple SAT based test pattern generation method can only find a single pattern per a fault, which does not consider the signal transition activities. The proposed method employs a modified SAT based test pattern generation algorithm which generates a sum of products form representing a set of test patterns. Test patterns are generated using random sampling from the sum product form, and the best one is selected with respect to the signal transition activities. |
| キーワード(和) | テストパタン生成 / 信号遷移回数 / SAT / ランダムサンプリング |
| キーワード(英) | test pattern generation / signal transition activity / SAT / random sampling |
| 資料番号 | VLD2016-63,DC2016-57 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / CPM / ICD / IE |
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| 開催期間 | 2016/11/28(から3日開催) |
| 開催地（和） | 立命館大学大阪いばらきキャンパス |
| 開催地（英） | Ritsumeikan University, Osaka Ibaraki Campus |
| テーマ（和） | デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2016 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 野毛 悟(沼津高専) / 藤島 実(広島大) / 高村 誠之(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Seishi Takamura(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 福本 聡(首都大東京) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 廣瀬 文彦(山形大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 浜本 隆之(東京理科大) / 市ヶ谷 敦郎(NHK) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Takayuki Hamamoto(Tokyo Univ. of Science) / Atsuro Ichigaya(NHK) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山口 佳樹(筑波大) / 谷川 一哉(広島市大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) / 吉田 毅(広島大) / 高宮 真(東大) / 坂東 幸浩(NTT) / 宮田 高道(千葉工大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Yukihiro Bandoh(NTT) / Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) / / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 河村 圭(KDDI研) / 高橋 桂太(名大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) / / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Kei Kawamura(KDDI R&D Labs.) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SATソルバを用いた信号遷移回数を考慮した遷移故障向けテストパタン生成手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On SAT based test pattern generation for transition faults considering signal activities |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパタン生成 / test pattern generation |
| キーワード(2)（和/英） | 信号遷移回数 / signal transition activity |
| キーワード(3)（和/英） | SAT / SAT |
| キーワード(4)（和/英） | ランダムサンプリング / random sampling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-11-30 |
| 資料番号 | VLD2016-63,DC2016-57 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | VLD-330,DC-331 |
| ページ範囲 | pp.111-115(VLD), pp.111-115(DC), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |