| 講演名 | 2016-11-30 動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いた不正改変検知装置の設計 北山 遼育(早大), 竹中 崇(NEC), 柳澤 政生(早大), 戸川 望(早大), |
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| 抄録(和) | IoTデバイスにおいて攻撃者はデバイスへ容易にアクセスできるため，IoTデバイスに対する不正なデバイス接続がセキュリティ上の脅威になり得る．デバイスの電気容量の変化を用いた不正検知は，電気容量がデバイスの物理的な構造によって決定されるため，不正なデバイスの接続による消費電力変化が小さい場合でも有効である．しかし，既存の電気容量計測装置は動作中のデバイスに対する電気容量の測定が難しく，IoTデバイスへの攻撃として想定され得る動作中のデバイスに対する不正なデバイスの接続は検知できない．そこで本稿では，動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いたデバイスの不正改変検知装置を提案する．提案不正改変検知装置は(a)正弦波発振回路と波形合成回路を用いた電源電圧を基準にわずかに振動する電源信号の生成回路を持ち，(a)から供給される電源信号を用いることでデバイスの動作に影響を与えることなく電気容量測定を可能とした．さらに，(b)電源信号の交流信号成分の振幅自動調整回路によって幅広い種類のIoTデバイスに対する電気容量測定を可能とした．動作中のIoTデバイスへ不正な電気容量変化を与え，電気容量変化を提案不正改変検知装置を用いて観測した．その結果，提案不正改変検知装置は0.1$mu$Fから10$mu$Fまでの電気容量の変化を検知できた． |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | IoT / 不正改変検知 / 電気容量測定 |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | VLD2016-66,DC2016-60 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / CPM / ICD / IE |
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| 開催期間 | 2016/11/28(から3日開催) |
| 開催地（和） | 立命館大学大阪いばらきキャンパス |
| 開催地（英） | Ritsumeikan University, Osaka Ibaraki Campus |
| テーマ（和） | デザインガイア2016 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2016 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 野毛 悟(沼津高専) / 藤島 実(広島大) / 高村 誠之(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Seishi Takamura(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 福本 聡(首都大東京) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 廣瀬 文彦(山形大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 浜本 隆之(東京理科大) / 市ヶ谷 敦郎(NHK) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Takayuki Hamamoto(Tokyo Univ. of Science) / Atsuro Ichigaya(NHK) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山口 佳樹(筑波大) / 谷川 一哉(広島市大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) / 吉田 毅(広島大) / 高宮 真(東大) / 坂東 幸浩(NTT) / 宮田 高道(千葉工大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Yukihiro Bandoh(NTT) / Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) / / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 小林 悠記(NEC) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 河村 圭(KDDI研) / 高橋 桂太(名大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) / / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Kei Kawamura(KDDI R&D Labs.) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 動作中のIoTデバイスに対する電気容量変化の測定を用いた不正改変検知装置の設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Malisious tamper detector design with capacitance measurement for IoT devices in operation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | IoT |
| キーワード(2)（和/英） | 不正改変検知 |
| キーワード(3)（和/英） | 電気容量測定 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 北山 遼育 / Ryosuke Kitayama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 竹中 崇 / Takashi Takenaka |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社(略称：NEC) NEC Corporation(略称：NEC) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 戸川 望 / Nozomu Togawa |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-11-30 |
| 資料番号 | VLD2016-66,DC2016-60 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | VLD-330,DC-331 |
| ページ範囲 | pp.129-134(VLD), pp.129-134(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-11-21 (VLD, DC) |