| 講演名 | 2016-10-28 有機薄膜トランジスタを用いた物理複製不能回路の電圧依存性 栗原 一徳(産総研), 堀 洋平(産総研), 片下 敏宏(産総研), 垣田 一成(宇部興産), 田中 康裕(宇部興産), 吉田 学(産総研), |
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| 抄録(和) | 本研究ではフレキシブル基板上に有機リングオシレータ(RO)回路を作成し，そのセキュリティ回路としての性能を評価した. セキュリティ回路としては近年注目されている物理複製不可能回路(PUF)の仕組みを利用し，複数のROのばらつきから求めた固有の数値の駆動電圧依存性を調べた. 結果として固有番号の生成エラー率は2 V駆動で4.8$times10^{-5}$であり揺らぎによって電圧が10％上昇しても0.1以下に抑えることができた. チップ間の独立性を示すInter HDは0.23～0.33であり、2 V駆動時のIntra HDである4.8$times10^{-5}$と比較して十分に小さいことから，本有機PUFは2 V以下で安定な動作をすることが示唆された. |
| 抄録(英) | We have investigated stability of novel security system. We fabricate organic ring oscillators (ROs) and consider them as core circuit of physically unclonable function (PUF). We generate unique numbers from variance of frequency of ROs and check their stability in various operation voltage as voltage fluctuation. In a result, our RO-PUF shows low error rate of 4.8$times10^{-5}$ at 2 V. And even at 2.2 V, the rate keeps less than 0.1. On the other hand, inter Hamming distance between two chips is calculated as 0.22 to 0.33 which is high enough compared with error rate. Therefore, it is suggested that our RO-PUF works stably with operation voltage of below 2V. |
| キーワード(和) | 有機トランジスタ / 自己組織化 / 低電圧 / フレキシブル / セキュリティ / 物理複製不可能回路 |
| キーワード(英) | Organic transistor / Self-assembly / Low voltage / Flexible / Security / Physically unclonable function |
| 資料番号 | OME2016-47 |
| 発行日 | 2016-10-21 (OME) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2016/10/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 有機デバイス、材料、一般 |
| テーマ（英） | Organic device, Materials, General |
| 委員長氏名（和） | 松田 直樹(産総研) |
| 委員長氏名（英） | Naoki Matsuda(AIST) |
| 副委員長氏名（和） | 森 竜雄(愛知工大) |
| 副委員長氏名（英） | Tatsuo Mori(Aichi Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 鴻野 晃洋(NTT) / 染谷 隆夫(東大) |
| 幹事氏名（英） | Akihiro Kohno(NTT) / Takao Someya(Univ. of Tokyo) |
| 幹事補佐氏名（和） | 梶井 博武(阪大) / 田口 大(東工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Organic Molecular Electronics |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 有機薄膜トランジスタを用いた物理複製不能回路の電圧依存性 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Stability of organic physically unclonable function for voltage fractuation. |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機トランジスタ / Organic transistor |
| キーワード(2)（和/英） | 自己組織化 / Self-assembly |
| キーワード(3)（和/英） | 低電圧 / Low voltage |
| キーワード(4)（和/英） | フレキシブル / Flexible |
| キーワード(5)（和/英） | セキュリティ / Security |
| キーワード(6)（和/英） | 物理複製不可能回路 / Physically unclonable function |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 栗原 一徳 / Kazunori Kuribara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堀 洋平 / Yohei Hori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 片下 敏宏 / Toshihiro Katashita |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 垣田 一成 / Kazuaki Kakita |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 宇部興産(略称：宇部興産) Ube Industries, Ltd.(略称：Ube Inds.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 田中 康裕 / Yasuhiro Tanaka |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 宇部興産(略称：宇部興産) Ube Industries, Ltd.(略称：Ube Inds.) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 吉田 学 / Manabu Yoshida |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2016-10-28 |
| 資料番号 | OME2016-47 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | OME-281 |
| ページ範囲 | pp.39-42(OME), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2016-10-21 (OME) |