講演名 2016-10-21
治具のTパラメータを用いる多ポート回路のSパラメータ推定法
小島 侑也(岐阜大), 関根 敏和(岐阜大), 高橋 康宏(岐阜大),
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抄録(和) 治具を介した間接測定により被測定回路のSパラメータを求める一方法について,測定ポート数と被測定回路のポート数が異なる場合を検討している.本方法では,まず,被測定回路の代わりに既知の負荷を治具に接続し,残りのポート間のSパラメータを測定することで治具のTパラメータを推定する.次に,治具に被測定回路を接続したときの測定値から治具の特性を取り除くことで,被測定回路のSパラメータを得る.治具のTパラメータを用いる利点は,その推定式が線形方程式になることである.治具を介する測定ポート数が被測定回路のポート数と異なる場合を検討し,測定ポート数が多い場合に治具のTパラメータが推定でき,被測定回路のSパラメータが得られることを述べている.
抄録(英) A method estimating S-parameters of n-port circuit connected to (m+n)-port fixture is described. Especiallythe case where m and n are different is investigated. First, T-parameters of the (m+n)-port fixture can beobtained from the measured values of the S-parameters between the remaining port with the known loads insteadof the circuit under test. Next, S-parameters of the n-port circuit under test can be obtained by removing thecharacteristics of (m+n)-port fixture from the measured values. The advantage of using the T parameter of thefixture is that the estimation equations are linear equations. When the number of measurement port is greater thanthe number of ports of the circuit under test, T parameters of the fixture can be estimated. Then, S parameters ofthe n-port circuit under test is obtained. Numerical example to verify the validity of the method is shown.
キーワード(和) Sパラメータ測定 / ディエンベディング / Tパラメータ / マルチポート回路
キーワード(英) S-parameters measurement / de-embedding / T-parameters / multi-port circuit
資料番号 EMCJ2016-80,MW2016-112,EST2016-76
発行日 2016-10-13 (EMCJ, MW, EST)

研究会情報
研究会 EMCJ / IEE-EMC / MW / EST
開催期間 2016/10/20(から2日開催)
開催地(和) 東北大学
開催地(英) Tohoku Univ.
テーマ(和) マイクロ波,電磁界シミュレーション,EMC一般
テーマ(英) Microwave, Electromagnetic simulation, EMC, etc.
委員長氏名(和) 曽根 秀昭(東北大) / 川又 憲(東北学院大) / 石川 容平(京大) / 木村 秀明(NTT)
委員長氏名(英) Hideaki Sone(Tohoku Univ.) / Ken Kawamata(Tohoku-gakuin Univ.) / Yohei Ishikawa(Kyoto Univ.) / Hideaki Kimura(NTT)
副委員長氏名(和) 和田 修己(京大) / / 九鬼 孝夫(国士舘大) / 西川 健二郎(鹿児島大) / 田島 賢一(三菱電機) / 大貫 進一郎(日大) / 平田 晃正(名工大)
副委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.) / / Takao Kuki(Kokushikan Univ.) / Kenjiro Nishikawa(Kagoshima Univ.) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Ohnuki(Nihon Univ.) / Akimasa Hirata(Nagoya Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 森岡 健浩(産総研) / 大坂 英樹(日立オートモティブシステムズ) / 牛尾 知雄(阪大) / 関口 秀紀(海技研) / 佐藤 潤二(パナソニック) / 平野 拓一(東工大) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(東北大)
幹事氏名(英) Takehiro Morioka(AIST) / Hideki Osaka(Hitachi Automotive Systems) / Tomoo Ushio(Osaka Univ.) / Hidenori Sekiguchi(NMRI) / Junji Sato(Panasonic) / Takuichi Hirano(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Otera(Tohoku Univ.)
幹事補佐氏名(和) 萓野 良樹(電通大) / 勝部 勇作(日立) / 佐々木 智江(パナソニック) / 林 優一(東北学院大) / 關谷 尚人(山梨大) / 小野 哲(電通大) / 毛塚 敦(電子航法研) / 田口 健治(北見工大)
幹事補佐氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Yusaku Katsube(Hitachi) / Chie Sasaki(Panasonic) / Yu-ichi Hayashi(Tohoku-gakuin Univ.) / Naoto Sekiya(Univ. of Yamanashi) / Satoshi Ono(Univ. of Electro-Comm.) / Atsushi Kezuka(ENRI) / Kenji Taguchi(Kitami Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electronics Simulation Technology
本文の言語 JPN
タイトル(和) 治具のTパラメータを用いる多ポート回路のSパラメータ推定法
サブタイトル(和) 測定と回路のポート数が異なる場合
タイトル(英) S-parameter estimation method for multi-port circuit using T parameters of fixture
サブタイトル(和) the number of ports of the measurement and multi-port circuit is not equal
キーワード(1)(和/英) Sパラメータ測定 / S-parameters measurement
キーワード(2)(和/英) ディエンベディング / de-embedding
キーワード(3)(和/英) Tパラメータ / T-parameters
キーワード(4)(和/英) マルチポート回路 / multi-port circuit
第 1 著者 氏名(和/英) 小島 侑也 / Yuuya Kojima
第 1 著者 所属(和/英) 岐阜大学(略称:岐阜大)
Gifu University(略称:Gifu Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 関根 敏和 / Toshikazu Sekine
第 2 著者 所属(和/英) 岐阜大学(略称:岐阜大)
Gifu University(略称:Gifu Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi
第 3 著者 所属(和/英) 岐阜大学(略称:岐阜大)
Gifu University(略称:Gifu Univ.)
発表年月日 2016-10-21
資料番号 EMCJ2016-80,MW2016-112,EST2016-76
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) EMCJ-253,MW-254,EST-255
ページ範囲 pp.119-124(EMCJ), pp.119-124(MW), pp.119-124(EST),
ページ数 6
発行日 2016-10-13 (EMCJ, MW, EST)