| 講演名 | 2016-10-21 リレー接点における接点被膜生成現象とその表面分析法 青木 武(前 TANAKA HD), |
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| 抄録(和) | 電気接点が最初に本格導入されたのは1890年、米の自動交換機からであるが、その後、1970年代ディジタルシステムに置き換るまで、交換機の信頼性を左右する要の部品として用いられた。その期間、接点の主要障害は経年的に生成する表面被膜による接触抵抗増大であり、実に、接点の歴史は交換機の更改のたびごとに生成する被膜との闘いの歴史であったともいえる。本報は、その被膜の生成現象について、腐食作用、触媒作用など被膜の生成メカニズムを探るとともに、それら生成被膜の分析法に関し、入射する測定プローブに対して透過像や回折スペクトラムなどから得られる解析情報を鳥瞰し、各接点被膜に適する表面分析手法を模索するなど実務的な側面も展望したものである。 |
| 抄録(英) | Electrical contacts have been applied for speech path switches and control system relays in telephone exchange systems for a long period (1890~1970’s), till digital systems replaced electromechanical exchange systems. Contacts, that are key parts of reliability, were renewed every replacement of the exchange systems in order to avoid contact resistance failures caused by contact films generated with the passing years. It can be said that history of contacts was one of battles against contact films, which were generated in several years after replacement. In this paper, first, formation mechanisms of surface films, for example corrosion films or catalysis films, are described. Next, a bird’ s- eye view of surface analysis information of the formed films are mentioned, besides practical points on surface analysis methods for the contact films are viewed. |
| キーワード(和) | 通話路スイッチ接点 / 接点表面被膜 / 接触抵抗障害 / 表面分析 / 元素分析 / 化学構造解析 |
| キーワード(英) | Contacts for speech path switches / Contact surface films / Contact resistance failures / Surface analysis / Chemical bond analysis / Chemical element analysis |
| 資料番号 | EMD2016-48 |
| 発行日 | 2016-10-14 (EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2016/10/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | レンタルホール湘南平塚 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ 研究会 ） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 阿部 宜輝(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Yoshiteru Abe(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | 澤田 滋(住友電装) / 鈴木 健司(富士電機機器制御) |
| 幹事氏名（英） | Shigeru Sawada(Sumitomo Denso) / Kenji Suzuki(Fujielectric) |
| 幹事補佐氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) / 林 優一(東北学院大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Yuichi Hayashi(Tohoku Gakuin Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リレー接点における接点被膜生成現象とその表面分析法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Phenomena on Contact Film Formation and the Surface Analysis Methods for Relay Contacts |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 通話路スイッチ接点 / Contacts for speech path switches |
| キーワード(2)（和/英） | 接点表面被膜 / Contact surface films |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗障害 / Contact resistance failures |
| キーワード(4)（和/英） | 表面分析 / Surface analysis |
| キーワード(5)（和/英） | 元素分析 / Chemical bond analysis |
| キーワード(6)（和/英） | 化学構造解析 / Chemical element analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 青木 武 / Takeshi Aoki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 前TANAKA ホールデュングス(略称：前 TANAKA HD) formaer TANAKA Holdings(略称：former TANAKA HD) |
| 発表年月日 | 2016-10-21 |
| 資料番号 | EMD2016-48 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | EMD-261 |
| ページ範囲 | pp.13-17(EMD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-10-14 (EMD) |