講演名 2016-10-20
EMCラウンドロビンテストにおけるエミッションおよびイミュニティ試験の研究報告
奥田 徳嗣(KEC関西電子工業振興センター), 井上 正弘(KEC関西電子工業振興センター), 志田 浩義(トーキン), 二宮 寿(ローランド), 正岡 賢治(KEC関西電子工業振興センター), 山中 稔(UL Japan), 和田 修己(京大),
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抄録(和) 前報その1において、放射・伝導エミッションのラウンドロビン試験結果の研究報告をした。本報告ではKECのEMC専門委員会のワーキンググループにおいて放射イミュニティに関して行ったラウンドロビンテストの実施手法、手順を公表するとともに、試験の結果と考察を報告する。
抄録(英) In the previous report, we explained Round-Robin tests on radiated and conducted emission test research report/result. In this report, we reveal methods and procedures of Round-Robin test on radiated immunity test conducted by KEC’s EMC Special Committee Working Group, as well as we report and examine the results of the Round-Robin testes from the participating organizations.
キーワード(和) EMC / ラウンドロビンテスト / 相関試験 / 放射イミュニティ / IEC61000-4-3
キーワード(英) EMC / round robin test / Comparison Test / Radiated Immunity / IEC61000-4-3
資料番号 EMCJ2016-61,MW2016-93,EST2016-57
発行日 2016-10-13 (EMCJ, MW, EST)

研究会情報
研究会 EMCJ / IEE-EMC / MW / EST
開催期間 2016/10/20(から2日開催)
開催地(和) 東北大学
開催地(英) Tohoku Univ.
テーマ(和) マイクロ波,電磁界シミュレーション,EMC一般
テーマ(英) Microwave, Electromagnetic simulation, EMC, etc.
委員長氏名(和) 曽根 秀昭(東北大) / 川又 憲(東北学院大) / 石川 容平(京大) / 木村 秀明(NTT)
委員長氏名(英) Hideaki Sone(Tohoku Univ.) / Ken Kawamata(Tohoku-gakuin Univ.) / Yohei Ishikawa(Kyoto Univ.) / Hideaki Kimura(NTT)
副委員長氏名(和) 和田 修己(京大) / / 九鬼 孝夫(国士舘大) / 西川 健二郎(鹿児島大) / 田島 賢一(三菱電機) / 大貫 進一郎(日大) / 平田 晃正(名工大)
副委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.) / / Takao Kuki(Kokushikan Univ.) / Kenjiro Nishikawa(Kagoshima Univ.) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Ohnuki(Nihon Univ.) / Akimasa Hirata(Nagoya Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 森岡 健浩(産総研) / 大坂 英樹(日立オートモティブシステムズ) / 牛尾 知雄(阪大) / 関口 秀紀(海技研) / 佐藤 潤二(パナソニック) / 平野 拓一(東工大) / 辻 寧英(室蘭工大) / 大寺 康夫(東北大)
幹事氏名(英) Takehiro Morioka(AIST) / Hideki Osaka(Hitachi Automotive Systems) / Tomoo Ushio(Osaka Univ.) / Hidenori Sekiguchi(NMRI) / Junji Sato(Panasonic) / Takuichi Hirano(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhide Tsuji(Muroran Inst. of Tech.) / Yasuo Otera(Tohoku Univ.)
幹事補佐氏名(和) 萓野 良樹(電通大) / 勝部 勇作(日立) / 佐々木 智江(パナソニック) / 林 優一(東北学院大) / 關谷 尚人(山梨大) / 小野 哲(電通大) / 毛塚 敦(電子航法研) / 田口 健治(北見工大)
幹事補佐氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Yusaku Katsube(Hitachi) / Chie Sasaki(Panasonic) / Yu-ichi Hayashi(Tohoku-gakuin Univ.) / Naoto Sekiya(Univ. of Yamanashi) / Satoshi Ono(Univ. of Electro-Comm.) / Atsushi Kezuka(ENRI) / Kenji Taguchi(Kitami Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electronics Simulation Technology
本文の言語 JPN
タイトル(和) EMCラウンドロビンテストにおけるエミッションおよびイミュニティ試験の研究報告
サブタイトル(和) その2:放射イミュニティラウンドロビンテストの実験結果
タイトル(英) Results of EMC round robin test on emission and immunity test.
サブタイトル(和) (2) Radiated immunity round robin test
キーワード(1)(和/英) EMC / EMC
キーワード(2)(和/英) ラウンドロビンテスト / round robin test
キーワード(3)(和/英) 相関試験 / Comparison Test
キーワード(4)(和/英) 放射イミュニティ / Radiated Immunity
キーワード(5)(和/英) IEC61000-4-3 / IEC61000-4-3
第 1 著者 氏名(和/英) 奥田 徳嗣 / Yoshitsugu Okuda
第 1 著者 所属(和/英) KEC関西電子工業振興センター(略称:KEC関西電子工業振興センター)
KEC Kansai Electronic Industry Development Center(略称:KEC)
第 2 著者 氏名(和/英) 井上 正弘 / Masahiro Inoue
第 2 著者 所属(和/英) KEC関西電子工業振興センター(略称:KEC関西電子工業振興センター)
KEC Kansai Electronic Industry Development Center(略称:KEC)
第 3 著者 氏名(和/英) 志田 浩義 / Hiro Shida
第 3 著者 所属(和/英) トーキンEMCエンジニアリング(略称:トーキン)
Tokin EMC Engineering Co., Ltd.(略称:Tokin)
第 4 著者 氏名(和/英) 二宮 寿 / Hisashi Ninomiya
第 4 著者 所属(和/英) ローランド株式会社(略称:ローランド)
Roland(略称:Roland)
第 5 著者 氏名(和/英) 正岡 賢治 / Kenji Masaoka
第 5 著者 所属(和/英) KEC関西電子工業振興センター(略称:KEC関西電子工業振興センター)
KEC Kansai Electronic Industry Development Center(略称:KEC)
第 6 著者 氏名(和/英) 山中 稔 / Minoru Yamanaka
第 6 著者 所属(和/英) 株式会社UL Japan(略称:UL Japan)
UL Japan(略称:UL)
第 7 著者 氏名(和/英) 和田 修己 / Osami Wada
第 7 著者 所属(和/英) 京都大学(略称:京大)
Kyoto University(略称:Kyo Dai)
発表年月日 2016-10-20
資料番号 EMCJ2016-61,MW2016-93,EST2016-57
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) EMCJ-253,MW-254,EST-255
ページ範囲 pp.5-10(EMCJ), pp.5-10(MW), pp.5-10(EST),
ページ数 6
発行日 2016-10-13 (EMCJ, MW, EST)