講演名 2016-10-25
テラヘルツ波帯における真空デバイスへの取組み(その2)
吉田 満(NECネットワーク・センサ), 小林 潤一(NECネットワーク・センサ), 藤下 祐亮(NECネットワーク・センサ), 増田 則夫(NECネットワーク・センサ), 関根 徳彦(NICT), 菅野 敦史(NICT), 山本 直克(NICT), 笠松 章史(NICT), 寳迫 巌(NICT),
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抄録(和) 真空デバイスと光デバイスの狭間付近には、テラヘルツギャップと呼ばれる有益なデバイスのない領域が存在している。現在、真空デバイスはこの領域を補う最も有力なデバイスと考えられている。当社においても300GHz帯(J帯)のTWTを内蔵したTPMの開発に着手しており、その前段階として計画している電子ビーム集束試験用のビームテストチューブ、FWG回路のコールドテスト、および入出力窓の整合テストの状況について報告する。
抄録(英) There is a region called "Terahertz Gap" between the highest frequency of microwave technology and the lowest frequency of photonic technology. At this region, the device development has been one of major issues on R&D. Recently, vacuum electronics devices, especially as high power THz sources, hold the potential for innovational progress in various applications. We report the development activity of 300 GHz TPM with FWG-TWT in this region.
キーワード(和) テラヘルツ / 真空デバイス / 進行波管 / TPM / 増幅器
キーワード(英) Terahertz / Vacuum Electronics / TWT / TPM / Amplifier
資料番号 ED2016-45
発行日 2016-10-18 (ED)

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2016/10/25(から2日開催)
開催地(和) 三重大学 新産業創成研究拠点(旧VBL)
開催地(英)
テーマ(和) 電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術
テーマ(英)
委員長氏名(和) 前澤 宏一(富山大)
委員長氏名(英) Koichi Maezawa(Univ. of Toyama)
副委員長氏名(和) 津田 邦男(東芝)
副委員長氏名(英) Kunio Tsuda(Toshiba)
幹事氏名(和) 鈴木 寿一(北陸先端大) / 新井 学(新日本無線)
幹事氏名(英) Toshikazu Suzuki(JAIST) / Manabu Arai(New JRC)
幹事補佐氏名(和) 東脇 正高(NICT) / 大石 敏之(佐賀大)
幹事補佐氏名(英) Masataka Higashiwaki(NICT) / Toshiyuki Oishi(Saga Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electron Device
本文の言語 JPN
タイトル(和) テラヘルツ波帯における真空デバイスへの取組み(その2)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Development Activity of Vacuum Electronics in THz Band
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テラヘルツ / Terahertz
キーワード(2)(和/英) 真空デバイス / Vacuum Electronics
キーワード(3)(和/英) 進行波管 / TWT
キーワード(4)(和/英) TPM / TPM
キーワード(5)(和/英) 増幅器 / Amplifier
第 1 著者 氏名(和/英) 吉田 満 / Mitsuru Yoshida
第 1 著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社(略称:NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd.(略称:NETS)
第 2 著者 氏名(和/英) 小林 潤一 / Junichi Kobayashi
第 2 著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社(略称:NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd.(略称:NETS)
第 3 著者 氏名(和/英) 藤下 祐亮 / Yusuke Fujishita
第 3 著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社(略称:NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd.(略称:NETS)
第 4 著者 氏名(和/英) 増田 則夫 / Norio Masuda
第 4 著者 所属(和/英) NECネットワーク・センサ株式会社(略称:NECネットワーク・センサ)
NEC Network and Sensor Systems, Ltd.(略称:NETS)
第 5 著者 氏名(和/英) 関根 徳彦 / Norihiko Sekine
第 5 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 6 著者 氏名(和/英) 菅野 敦史 / Atsushi Kanno
第 6 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 7 著者 氏名(和/英) 山本 直克 / Naokatsu Yamamoto
第 7 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 8 著者 氏名(和/英) 笠松 章史 / Akifumi Kasamatsu
第 8 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
第 9 著者 氏名(和/英) 寳迫 巌 / Iwao Hosako
第 9 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構(略称:NICT)
National Institute of Information and Communications Technology(略称:NICT)
発表年月日 2016-10-25
資料番号 ED2016-45
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) ED-268
ページ範囲 pp.9-12(ED),
ページ数 4
発行日 2016-10-18 (ED)