| 講演名 | 2016-08-03 ［招待講演］ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 吉本 裕平(PSCS), 加藤 佳一(PSCS), 小笠原 悟(PSCS), 魏 志強(PSCS), 河野 和幸(PSCS), |
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| 抄録(和) | Physically Unclonable Function(PUF)は，製造ばらつきをチップ固有のIDとして利用し，複製困難性の高いハードウェアセキュリティ技術として注目を集めている．本稿ではResistance Random Access Memory(ReRAM)の抵抗ばらつきを利用したReRAM-PUFを提案する．抵抗ばらつき分布の温度変化や経年劣化に追従してIDを再生する技術を確立し，-40-125 ˚Cかつ125˚C10年の車載品質でもBit Error Rate(BER)が0.49%以下という高信頼性を実現した．更に，生成されたIDはNIST乱数検定をPASSするユニーク性を持つことを実証し，不揮発性メモリにセキュア機能という新たな高付加価値技術を構築することに成功した． |
| 抄録(英) | This paper presents a secure application—a physically unclonable function (PUF)—that uses the physical property of resistive random access memory (ReRAM). The proposed PUF-generating method and reproducing algorithm achieves highly reliable with bit error rate (BER) < 0.5% and reproduction exceeding 1010 times at -40 to 125˚C after 10 years at 125˚C and high uniqueness as evidenced by passing NIST tests. Evaluations on 40nm ReRAM test chips have demonstrated the feasibility of a scaled-down ReRAM cell enhanced with PUF. |
| キーワード(和) | ReRAM / PUF / 高信頼 / セキュリティ / 車載 |
| キーワード(英) | ReRAM / PUF / high reliability / security / automobile |
| 資料番号 | SDM2016-61,ICD2016-29 |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / SDM / ITE-IST |
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| 開催期間 | 2016/8/1(から3日開催) |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Central Electric Club |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧/低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low voltage/low power techniques, novel devices, circuits, and applications |
| 委員長氏名（和） | 藤島 実(広島大) / 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 須川 成利(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Shigetoshi Sugawa(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 品田 高宏(東北大) / 浜本 隆之(東京理科大) / 大竹 浩(NHK) |
| 副委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Takahiro Shinada(Tohoku Univ.) / Takayuki Hamamoto(東京理科大) / Hiroshi Ohtake(NHK) |
| 幹事氏名（和） | 吉田 毅(広島大) / 高宮 真(東大) / 黒田 理人(東北大) / 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) |
| 幹事氏名（英） | Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Tadashi Yamaguchi(Renesas) |
| 幹事補佐氏名（和） | 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 池田 浩也(静岡大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Hiroya Ikeda(Shizuoka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Group on Information Sensing Technologies |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［招待講演］ReRAM固有の抵抗ばらつきを利用した40nm混載メモリ向け高信頼性PUF開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Invited Talk] A ReRAM-based Physically Unclonable Function with Bit Error Rate < 0.5% after 10 years at 125°C for 40nm embedded application |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ReRAM / ReRAM |
| キーワード(2)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(3)（和/英） | 高信頼 / high reliability |
| キーワード(4)（和/英） | セキュリティ / security |
| キーワード(5)（和/英） | 車載 / automobile |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 吉本 裕平 / Yuhei Yoshimoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation(略称：Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 加藤 佳一 / Yoshikazu Katoh |
| 第 2 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation(略称：Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小笠原 悟 / Satoru Ogasahara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation(略称：Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 魏 志強 / Zhiqiang Wei |
| 第 4 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation(略称：Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 河野 和幸 / Kazuyuki Kouno |
| 第 5 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) Panasonic Semiconductor Solutions Corporation(略称：Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.) |
| 発表年月日 | 2016-08-03 |
| 資料番号 | SDM2016-61,ICD2016-29 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | SDM-172,ICD-173 |
| ページ範囲 | pp.89-94(SDM), pp.89-94(ICD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-07-25 (SDM, ICD) |