講演名 2016-06-20
[招待講演]国際会議報告:VTS2016
畠山 一実(群馬大/クリエイトロン),
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抄録(和) 2016年4月に米国ネバダ州ラスベガスで開催された第34回VLSIテストシンポジウム(VTS2016)について報告する.VTSの沿革とVTS2016の概要を紹介したのち,論文発表の動向を提示する.また,基調講演について概説するとともに,企業事例トラックでの講演を中心に,テスト生成関連,車載LSI対応テスト技術,デストデータ解析,SoCテストの各分野での注目された発表について詳述する.
抄録(英) This talk provide a report of VTS2016 (34th IEEE VLSI Test Symposium), which was held in Las Vegas, Nevada, USA, in April 2016. After showing the outlines of VTS and VTS2016, the trend of paper topic area is shown. Then the summaries of keynote speeches are followed by detailed reports on noticeable papers in the areas of test pattern generation, test for automotive LSIs, test data analysis and SoC testing, mainly from Innovative Practice Track.
キーワード(和) VLSI / テスト生成 / 車載LSIテスト / テストデータ解析 / SoCテスト
キーワード(英) VLSI / test generation / automotive LSI / test data analysis / SoC Testing
資料番号 DC2016-16
発行日 2016-06-13 (DC)

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2016/6/20(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和) 設計/テスト/検証および一般
テーマ(英) Design, Test, Verification, etc.
委員長氏名(和) 井上 美智子(奈良先端大)
委員長氏名(英) Michiko Inoue(NAIST)
副委員長氏名(和) 福本 聡(首都大東京)
副委員長氏名(英) Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.)
幹事氏名(和) 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大)
幹事氏名(英) Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]国際会議報告:VTS2016
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] Internatoinal Conferecen Report: VTS2016
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) VLSI / VLSI
キーワード(2)(和/英) テスト生成 / test generation
キーワード(3)(和/英) 車載LSIテスト / automotive LSI
キーワード(4)(和/英) テストデータ解析 / test data analysis
キーワード(5)(和/英) SoCテスト / SoC Testing
第 1 著者 氏名(和/英) 畠山 一実 / Kazumi Hatayama
第 1 著者 所属(和/英) 群馬大学/クリエイトロン株式会社(略称:群馬大/クリエイトロン)
Gunma University/Creatron Corp.(略称:Gunma Univ./Creatron Corp.)
発表年月日 2016-06-20
資料番号 DC2016-16
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) DC-108
ページ範囲 pp.37-42(DC),
ページ数 6
発行日 2016-06-13 (DC)