| 講演名 | 2016-06-16 信号遷移回数を考慮したランダムテストパタン生成法について 松永 裕介(九大), |
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| 抄録(和) | 本稿ではランダムパタンを用いて遷移故障向けのテストパタン生成をする際に， 信号遷移回数を考慮する手法について提案する． 具体的には各々のパタンを印加した時の信号遷移回数に基づいた確率分布を持 つマルコフ連鎖モデルを構築し， そのマルコフモデル上でランダムサンプリングを行うことで信号遷移回数を考 慮したランダムパタンの生成を行うものである． ベンチマークを用いた実験の結果，提案手法で生成されたパタンは検出する故 障数では信号遷移回数に制限を設けない単純な手法の結果とほぼ同等の結果を 得られることがわかった． ただしパタン数は多くなる傾向にある． |
| 抄録(英) | This paper presents a test pattern generation method with considering signal transition activities using Markov chain Monte-Carlo method. Experimental results show that the number of detected faults using the proposed method is compatible to the existing method which does not consider signal transition activities, however, the number patterns is likely to increase. |
| キーワード(和) | テストパタン生成 / 信号遷移回数 / マルコフ連鎖モンテカルロ法 |
| キーワード(英) | test pattern generation / signal transition activity / Markov chain Monte-Carlo algorithm |
| 資料番号 | CAS2016-4,VLD2016-10,SIP2016-38,MSS2016-4 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / CAS / MSS / SIP |
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| 開催期間 | 2016/6/16(から2日開催) |
| 開催地（和） | 弘前市立観光館 |
| 開催地（英） | Hirosaki Shiritsu Kanko-kan |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System, signal processing and related topics |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 高橋 俊彦(新潟大) / 山根 智(金沢大) / 中静 真(千葉工大) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Toshihiko Takahashi(Niigata Univ.) / Satoshi Yamane(Kanazawa Univ.) / Makoto Nakashizuka(Chiba Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 平木 充(ルネサス エレクトロニクス) / 名嘉村 盛和(琉球大) / 奥田 正浩(北九州市大) / 村松 正吾(新潟大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Mitsuru Hiraki(Renesas) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Masahiro Okuda(Univ. of Kitakyushu) / Shogo Muramatsu(Niigata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) / 越田 俊介(東北大) / 山口 基(ルネサスシステムデザイン) / 中田 充(山口大) / 豊嶋 伊知郎(東芝) / 平林 晃(立命館大) / 宮田 高道(千葉工大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Shunsuke Koshita(Tohoku Univ.) / Motoi Yamaguchi(Renesas) / Mitsuru Nakata(Yamaguchi Univ.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Akira Hirabayashi(Ritsumeikan Univ.) / Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) / 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立) / 金城 秀樹(沖縄大) / 渡邊 修(拓殖大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on Signal Processing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 信号遷移回数を考慮したランダムテストパタン生成法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On random test pattern generation algorithm considering signal transition activities |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパタン生成 / test pattern generation |
| キーワード(2)（和/英） | 信号遷移回数 / signal transition activity |
| キーワード(3)（和/英） | マルコフ連鎖モンテカルロ法 / Markov chain Monte-Carlo algorithm |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州大学(略称：九大) Kyushu University(略称：Kyushu Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-06-16 |
| 資料番号 | CAS2016-4,VLD2016-10,SIP2016-38,MSS2016-4 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | CAS-93,VLD-94,SIP-95,MSS-96 |
| ページ範囲 | pp.19-22(CAS), pp.19-22(VLD), pp.19-22(SIP), pp.19-22(MSS), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |