| 講演名 | 2016-06-20 危険側故障割合の定量評価を用いたFPGA活用制御システムの低コスト化 広津 鉄平(日立), 金川 信康(日立), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2016/6/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計/テスト/検証および一般 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification, etc. |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 危険側故障割合の定量評価を用いたFPGA活用制御システムの低コスト化 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study of Cost ReductionTechnique for FPGA-based Control Systems by Quantiative Evaluation of Dangerous Failure Ratio |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 広津 鉄平 / Teppei Hirotsu |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日立製作所(略称：日立) Hitachi. Ltd.(略称：Hitachi) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 金川 信康 / Nobuyasu Kanekawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 発表年月日 | 2016-06-20 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | DC-108 |
| ページ範囲 | pp.-(), |
| ページ数 | |
| 発行日 | |