講演名 | 2016-06-20 危険側故障割合の定量評価を用いたFPGA活用制御システムの低コスト化 広津 鉄平(日立), 金川 信康(日立), |
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資料番号 | |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | DC |
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開催期間 | 2016/6/20(から1日開催) |
開催地(和) | 機械振興会館 |
開催地(英) | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) | 設計/テスト/検証および一般 |
テーマ(英) | Design, Test, Verification, etc. |
委員長氏名(和) | 井上 美智子(奈良先端大) |
委員長氏名(英) | Michiko Inoue(NAIST) |
副委員長氏名(和) | 福本 聡(首都大東京) |
副委員長氏名(英) | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
幹事氏名(和) | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
幹事氏名(英) | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 危険側故障割合の定量評価を用いたFPGA活用制御システムの低コスト化 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Study of Cost ReductionTechnique for FPGA-based Control Systems by Quantiative Evaluation of Dangerous Failure Ratio |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 広津 鉄平 / Teppei Hirotsu |
第 1 著者 所属(和/英) | 日立製作所(略称:日立) Hitachi. Ltd.(略称:Hitachi) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 金川 信康 / Nobuyasu Kanekawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 日立製作所(略称:日立) Hitachi, Ltd.(略称:Hitachi) |
発表年月日 | 2016-06-20 |
資料番号 | |
巻番号(vol) | vol.116 |
号番号(no) | DC-108 |
ページ範囲 | pp.-(), |
ページ数 | |
発行日 |