| 講演名 | 2016-06-16 単一故障用テストパターンでは不十分な場合を考慮した多重縮退故障用テストパターン自動生成手法 ムーア コンラッド ジンヨン(東大), ガラバギ アミル マスード(東大), 藤田 昌宏(東大), |
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| 抄録(和) | 年々製造される回路が大きく高密度になっているので、産業界で用いられている単一故障発見のためのATPG手法だけでは多重故障の見逃しが多くなってしまう。多重故障の数は単一故障と比較して指数的に増加するものであるが、既存研究では事前に単一故障のためのテストパターンを与えれば比較的少数の追加パターンですべての多重故障がカバーできることが示されている[1]。本稿では、ATPGによって生成された単一縮退故障検出のためのテストパターンが多重縮退故障を検出しない場合について、厳密な検討を行う。まず単一縮退故障のためのATPG手法がすべての多重縮退故障をカバーするために満たすべき条件を示す。次に単一縮退故障のためのATPG手法が満たすべき、それなしでは全多重縮退故障が検出できなくなるような条件を考える。最後に我々の提案するATPG手法を説明する。 |
| 抄録(英) | As fabricated circuitry gets larger and denser, modern industrial ATPG techniques which focus on the detection of single faults become more likely to overlook multiple (simultaneous) faults. Although there are exponentially more multiple faults than single faults, previous works have shown that given an initial set of test patterns for single faults, relatively few additional tests are required in order to cover all multiple faults. The exact situations in which test patterns generated by ATPG for single stuck-at (SSA) faults do not detect multiple stuck-at (MSA) faults will be examined. This will be done by presenting proofs which show the conditions that need to be met such that ATPG for single faults can cover all multiple faults. An analysis is then performed to determine the exact conditions that, when removed from the circuit, violate the assumption that ATPG for single faults will detect all multiple faults. Finally, our proposed ATPG algorithm will be explained. |
| キーワード(和) | テストパターン自動生成 / 多重故障 / 単一故障 / 組み合わせ論理回路 / ATPG |
| キーワード(英) | Automatic Test Pattern Generation / Double Fault / Single Fault / Combinational Logic |
| 資料番号 | CAS2016-3,VLD2016-9,SIP2016-37,MSS2016-3 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / CAS / MSS / SIP |
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| 開催期間 | 2016/6/16(から2日開催) |
| 開催地（和） | 弘前市立観光館 |
| 開催地（英） | Hirosaki Shiritsu Kanko-kan |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System, signal processing and related topics |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 高橋 俊彦(新潟大) / 山根 智(金沢大) / 中静 真(千葉工大) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Toshihiko Takahashi(Niigata Univ.) / Satoshi Yamane(Kanazawa Univ.) / Makoto Nakashizuka(Chiba Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 平木 充(ルネサス エレクトロニクス) / 名嘉村 盛和(琉球大) / 奥田 正浩(北九州市大) / 村松 正吾(新潟大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Mitsuru Hiraki(Renesas) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Masahiro Okuda(Univ. of Kitakyushu) / Shogo Muramatsu(Niigata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) / 越田 俊介(東北大) / 山口 基(ルネサスシステムデザイン) / 中田 充(山口大) / 豊嶋 伊知郎(東芝) / 平林 晃(立命館大) / 宮田 高道(千葉工大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Shunsuke Koshita(Tohoku Univ.) / Motoi Yamaguchi(Renesas) / Mitsuru Nakata(Yamaguchi Univ.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Akira Hirabayashi(Ritsumeikan Univ.) / Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) / 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立) / 金城 秀樹(沖縄大) / 渡邊 修(拓殖大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on Signal Processing |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | 単一故障用テストパターンでは不十分な場合を考慮した多重縮退故障用テストパターン自動生成手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Automatic Test Pattern Generation for Multiple Stuck-At Faults: When Testing for Single Faults is Insufficient |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストパターン自動生成 / Automatic Test Pattern Generation |
| キーワード(2)（和/英） | 多重故障 / Double Fault |
| キーワード(3)（和/英） | 単一故障 / Single Fault |
| キーワード(4)（和/英） | 組み合わせ論理回路 / Combinational Logic |
| キーワード(5)（和/英） | ATPG |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | ムーア コンラッド ジンヨン / Conrad JinYong Moore |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | ガラバギ アミル マスード / Amir Masoud Gharehbaghi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤田 昌宏 / Masahiro Fujita |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：Univ. of Tokyo) |
| 発表年月日 | 2016-06-16 |
| 資料番号 | CAS2016-3,VLD2016-9,SIP2016-37,MSS2016-3 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | CAS-93,VLD-94,SIP-95,MSS-96 |
| ページ範囲 | pp.13-18(CAS), pp.13-18(VLD), pp.13-18(SIP), pp.13-18(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |