| 講演名 | 2016-06-16 Trivium暗号回路に対するスキャンベース攻撃の実装評価 於久 太祐(早大), 柳澤 政生(早大), 戸川 望(早大), |
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| 抄録(和) | テスト容易化技術の一つであるスキャンパステストは，集積回路内部のレジスタを外部から直接観測・制御できるテスト手法で，集積回路のテスト・検証に不可欠なものとなっている．一方で，スキャンパステストを悪用して暗号回路の秘密情報を取得するスキャンベース攻撃が報告されている．暗号回路からスキャンチェインを通して暗号処理中の内部レジスタの情報をスキャンデータとして取得し，これを解析することで暗号回路中の秘密鍵や平文を復元することができる．これまではブロック暗号に対するスキャンベース攻撃は実機実験の結果から有用な攻撃であると報告されているが，ストリーム暗号に対するスキャンベース攻撃はシミュレーション上の実験のみ報告されており実機を使った有効性評価は報告されていない．本稿では，サイドチャネル攻撃用標準評価基板SASEBO-GIIを用いてストリーム暗号Triviumに対するスキャンベース攻撃の実装実験について報告する．入力・動作サイクル数によるレジスタ値の変化がレジスタ固有の値になることを利用したスキャンベース攻撃手法を用いる．SASEBO-GII上のFPGAにTrivium暗号回路と内部観察回路を組み込み，暗号処理中の内部信号を取得・解析することで，FPGA に実装された暗号回路の内部レジスタの状態を復元できることを示した． |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | Trivium / スキャンベース攻撃 / SASEBO-GII / サイドチャネル攻撃 / すキャンパステスト |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | CAS2016-2,VLD2016-8,SIP2016-36,MSS2016-2 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / CAS / MSS / SIP |
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| 開催期間 | 2016/6/16(から2日開催) |
| 開催地（和） | 弘前市立観光館 |
| 開催地（英） | Hirosaki Shiritsu Kanko-kan |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System, signal processing and related topics |
| 委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 高橋 俊彦(新潟大) / 山根 智(金沢大) / 中静 真(千葉工大) |
| 委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Toshihiko Takahashi(Niigata Univ.) / Satoshi Yamane(Kanazawa Univ.) / Makoto Nakashizuka(Chiba Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 平木 充(ルネサス エレクトロニクス) / 名嘉村 盛和(琉球大) / 奥田 正浩(北九州市大) / 村松 正吾(新潟大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Mitsuru Hiraki(Renesas) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Masahiro Okuda(Univ. of Kitakyushu) / Shogo Muramatsu(Niigata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 福田 大輔(富士通研) / 永山 忍(広島市大) / 越田 俊介(東北大) / 山口 基(ルネサスシステムデザイン) / 中田 充(山口大) / 豊嶋 伊知郎(東芝) / 平林 晃(立命館大) / 宮田 高道(千葉工大) |
| 幹事氏名（英） | Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Shunsuke Koshita(Tohoku Univ.) / Motoi Yamaguchi(Renesas) / Mitsuru Nakata(Yamaguchi Univ.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Akira Hirabayashi(Ritsumeikan Univ.) / Takamichi Miyata(Chiba Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | Parizy Matthieu(富士通研) / 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立) / 金城 秀樹(沖縄大) / 渡邊 修(拓殖大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Parizy Matthieu(Fujitsu Labs.) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on Signal Processing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Trivium暗号回路に対するスキャンベース攻撃の実装評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Verification Experiment of Scan-based Attack against a Trivium Cipher Circut |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Trivium |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンベース攻撃 |
| キーワード(3)（和/英） | SASEBO-GII |
| キーワード(4)（和/英） | サイドチャネル攻撃 |
| キーワード(5)（和/英） | すキャンパステスト |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 於久 太祐 / Daisuke Oku |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 戸川 望 / Nozomu Togawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 早稲田大学(略称：早大) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-06-16 |
| 資料番号 | CAS2016-2,VLD2016-8,SIP2016-36,MSS2016-2 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | CAS-93,VLD-94,SIP-95,MSS-96 |
| ページ範囲 | pp.7-12(CAS), pp.7-12(VLD), pp.7-12(SIP), pp.7-12(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-06-09 (CAS, VLD, SIP, MSS) |