| 講演名 | 2016-06-20 テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 佐藤 護(日大), 細川 利典(日大), 増田 哲也(日大), 西間木 淳(日大), 藤原 秀雄(阪学院大), |
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| 抄録(和) | データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法では，データパス回路に対して複数の時間展開モデルを生成し，テスト生成を行う．さらに，生成されたテスト容易化機能的時間展開モデルの動作を制御するために，コントローラの拡大が実行される．しかしながら，データパスの回路構造がテスト容易でなければ，コントローラ拡大による時間展開数の小さいテスト容易化機能的時間展開モデルの生成は困難である．本論文では，データパスの回路構造のテスト容易性を評価する尺度として，演算器入出力順序深度を提案し，その演算器入出力順序深度を削減するためのテスト容易化バインディング法を提案する．ベンチマーク回路に対する回路に対する実験結果は，提案したバインディング法がテスト容易性を考慮しないで動作合成をした回路と比較をし，演算器入出力順序深度，故障検出率，テスト生成時間に対して効果的であることを示す． |
| 抄録(英) | A test generation method for datapaths using easily testable functional time expansion models was proposed as efficient algorithms. In the test generation method, several easily testable time expansion models are generated for datapaths and test sequences are generated using the models. Moreover, controller augmentation is performed to make the behavior of easily testable functional time expansion models controllable. However, if circuit structures of datapaths are not easily testable, it is hard to generate easily testable functional time expansion models with small numbers of time expansion by controller augmentation. In this paper, sequential depths for inputs and an output for operational units are proposed as testability measures for circuit structures of datapaths and a binding method for testability to reduce the sequential depths is proposed. Experimental results for benchmark circuits show that the proposed binding method is effective for sequential depths of operational units, fault coverage, and test generation time, compared to conventional binding methods without testability consideration. |
| キーワード(和) | 動作合成 / テスト生成 / テスト容易化機能的時間展開モデル / 演算器入出力順序深度 / バインディング |
| キーワード(英) | high-level synthesis / test generation / easily testable functional time expansion models / sequential depths of inputs and an output for operational units / binding |
| 資料番号 | DC2016-14 |
| 発行日 | 2016-06-13 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2016/6/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計/テスト/検証および一般 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification, etc. |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Binding Method for Testability to Generate Easily Testable Functional Time Expansion Models |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 動作合成 / high-level synthesis |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / test generation |
| キーワード(3)（和/英） | テスト容易化機能的時間展開モデル / easily testable functional time expansion models |
| キーワード(4)（和/英） | 演算器入出力順序深度 / sequential depths of inputs and an output for operational units |
| キーワード(5)（和/英） | バインディング / binding |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐藤 護 / Mamoru Sato |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 増田 哲也 / Tetsuya Masuda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 西間木 淳 / Jun Nishimaki |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 大阪学院大学(略称：阪学院大) Osaka Gakuin Univ.(略称：Osaka Gakuin Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-06-20 |
| 資料番号 | DC2016-14 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | DC-108 |
| ページ範囲 | pp.25-30(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-06-13 (DC) |