| 講演名 | 2016-06-02 ［ポスター講演］連続正弦波による暗号機器への故障注入時に適用可能な解析手法提案 伊東 拓哉(東北大), 林 優一(東北学院大), 水木 敬明(東北大), 曽根 秀昭(東北大), |
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| 抄録(和) | 暗号機器に対する故障注入手法として，電源線に対し連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害を行うことで故障を注入する手法が提案されている．この手法は暗号機器の遠方から故障を注入できるという利点がある．一方で，故障を発生させる時刻の制御が困難であるため，連続正弦波を用いた故障注入手法に適切な解析手法に関する検討が十分になされていない．そこで本稿では，連続正弦波による故障注入時に適用可能な解析手法について検討する． |
| 抄録(英) | The existing intentional electromagnetic interference (IEMI) fault injection method based on continuous sinusoidal waves has a difficulty in injecting faults at a specific operation or time. Therefore, it is not fully considered that an analytical methods for this fault injection method. In this paper, we propose a suitable analytical method for IEMI based fault injection method. |
| キーワード(和) | 故障利用解析 / 意図的な電磁妨害 / FSA |
| キーワード(英) | Fault analysis / Intentional electromagnetic interference / FSA |
| 資料番号 | EMCJ2016-43 |
| 発行日 | 2016-05-26 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG |
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| 開催期間 | 2016/6/2(から2日開催) |
| 開催地（和） | NTU (台湾) |
| 開催地（英） | NTU, Taiwan |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop, 2016, Taipei |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop, 2016, Taipei |
| 委員長氏名（和） | 曽根 秀昭(東北大) / 川又 憲(東北学院大) / 山口 正洋(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Hideaki Sone(Tohoku Univ.) / Ken Kawamata(Tohoku-gakuin Univ.) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) |
| 副委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 森岡 健浩(産総研) / 大坂 英樹(日立オートモティブシステムズ) / 牛尾 知雄(阪大) / 関口 秀紀(海技研) / 小原 学(明治大) |
| 幹事氏名（英） | Takehiro Morioka(AIST) / Hideki Osaka(Hitachi Automotive Systems) / Tomoo Ushio(Osaka Univ.) / Hidenori Sekiguchi(NMRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 萓野 良樹(電通大) / 勝部 勇作(日立) / 佐々木 智江(パナソニック) / 林 優一(東北学院大) / 山田 啓壽(東芝) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Yusaku Katsube(Hitachi) / Chie Sasaki(Panasonic) / Yu-ichi Hayashi(Tohoku-gakuin Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | ［ポスター講演］連続正弦波による暗号機器への故障注入時に適用可能な解析手法提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Study on Fault Sensitivity Analysis of Cryptographic Device under IEMI |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障利用解析 / Fault analysis |
| キーワード(2)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional electromagnetic interference |
| キーワード(3)（和/英） | FSA / FSA |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 伊東 拓哉 / Takuya Itoh |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東北学院大学(略称：東北学院大) Tohoku Gakuin University(略称：Tohoku Gakuin Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-06-02 |
| 資料番号 | EMCJ2016-43 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | EMCJ-72 |
| ページ範囲 | pp.83-84(EMCJ), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2016-05-26 (EMCJ) |