| 講演名 | 2016-05-28 テスト環境を考慮した二項ソフトウェア信頼性モデルに関する考察 井上 真二(鳥取大), 山田 茂(鳥取大), |
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| 抄録(和) | ソフトウェア開発におけるテストの実施に伴って観測されるソフトウェア故障発生現象やフォールト発見事象は，達成されたテスト網羅度や実行されたテスト項目数など，テスト環境を特徴付ける数多くの要因に大きく依存することが十分に考えられる．本研究では，ソフトウェア複雑性メトリクスの$1$つであるプログラム規模を考慮した二項ソフトウェア信頼性モデルの構築枠組みにおいて，一般化線形モデリングに基づきながら，テスト環境を考慮した新たなモデルを構築する．最後に，実際のソフトウェア開発で観測されたデータを用い，実測データに対する適合性について，テスト環境を考慮しない既存の二項ソフトウェア信頼性モデルとの比較を行い，提案モデルの有効性を検証する． |
| 抄録(英) | Considering an actual software testing phase, we have no doubt that the software reliability growth process depends on test environment factors, such as testing coverage, the number of test-runs and debugging skills, which affect the software failure occurrence or fault detection phenomenon in the testing phase. In this research, we propose a software reliability modeling approach that considers the effects of the testing environment factors based on a program size dependent discrete binomial-type software reliability model. Our model is also consistent with software reliability data collection and enables us to consider the effect of the program size. Finally, we compare the accuracy of our models in terms of mean square errors (MSE) and Akaike's information criterion (AIC) with the existing corresponding model by using actual data. |
| キーワード(和) | ソフトウェア信頼性モデル / テスト環境 / プログラム規模 / 二項過程 / 一般化線形モデル |
| キーワード(英) | Software reliability model / Test environment / Program-size / Binomial process / Generalized linear model |
| 資料番号 | R2016-7 |
| 発行日 | 2016-05-21 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2016/5/28(から1日開催) |
| 開催地（和） | ウインクあいち |
| 開催地（英） | WINC AICHI |
| テーマ（和） | ソフトウェアの信頼性，信頼性一般 |
| テーマ（英） | Software Reliability, Overall reliability engineering |
| 委員長氏名（和） | 馬渡 宏泰(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyasu Mawatari(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 弓削 哲史(防衛大) |
| 副委員長氏名（英） | Tetsushi Yuge(National Defense Academy) |
| 幹事氏名（和） | 安里 彰(富士通) / 岡村 寛之(広島大) |
| 幹事氏名（英） | Akira Asato(Fujitsu) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | マラット ザニケエフ(九工大) / 田村 信幸(法政大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Maratt Zanikef(Kyushu Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | テスト環境を考慮した二項ソフトウェア信頼性モデルに関する考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Binomial-Type Software Reliability Modeling with Test Environment Factors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼性モデル / Software reliability model |
| キーワード(2)（和/英） | テスト環境 / Test environment |
| キーワード(3)（和/英） | プログラム規模 / Program-size |
| キーワード(4)（和/英） | 二項過程 / Binomial process |
| キーワード(5)（和/英） | 一般化線形モデル / Generalized linear model |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井上 真二 / Shinji Inoue |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 鳥取大学(略称：鳥取大) Tottori University(略称：Tottori Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山田 茂 / Shigeru Yamada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 鳥取大学(略称：鳥取大) Tottori University(略称：Tottori Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-05-28 |
| 資料番号 | R2016-7 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | R-69 |
| ページ範囲 | pp.39-44(R), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-05-21 (R) |