講演名 2016-05-11
レジスタの耐放射線性を考慮したスケジューリング問題に関する一検討
井上 恵介(金沢高専), 金子 峰雄(北陸先端大),
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抄録(和) 本稿では耐放射線性を有するアプリケーション特化型集積回路(ASIC)の高位設計について議論する。自然界に存在する放射線の中で半導体メーカーが問題とする放射線は、アルファ線と中性子線である。これらの放射線はシリコンダイが維持している電位を破壊する。その結果、レジスタが記憶していた論理値が反転しASICが誤動作することがある。この問題の対策手法の一つとしてデータスクラビング (data scrubbing) がある。データスクラビングでは、レジスタを検査アクセスした際、訂正可能な1ビットエラーのデータが見つかると、訂正回路によって正しいデータに訂正しレジスタに書き戻す。本稿では、演算スケジュール済のデータフローグラフが回路仕様として与えられたとき、どのタイミングでどのレジスタにデータスクラビングを適用すれば訂正回路数最小を保証する耐放射線ASICが合成可能であるかというスケジューリング問題について考え、整数計画法による解法を提案する。
抄録(英) This paper discusses a high-level design of an application specific integrated circuit (ASIC) with radiation resistance. Among the radiation in natural environment, alpha radiation and neutron radiation pose a big challenge for semiconductor companies as they can cause ASIC malfunction. As one of the possible solutions of this problem, we focus on data scrubbing which is the process of detecting and correcting one-bit error, and writing it back in a register.In this paper, we consider a synthesis problem of ASIC with radiation resistance such that if a scheduled data-flow graph is given as an ASIC specification, find a data scrubbing scheduling with the minimum number of corrector circuits. We propose an integer linear programming formulation of this problem.
キーワード(和) 耐放射線性 / 高位設計 / データスクラビング / 整数計画法
キーワード(英) radiation resistance / high-level design / data scrubbing / integer linear programming
資料番号
発行日

研究会情報
研究会 VLD / IPSJ-SLDM
開催期間 2016/5/11(から1日開催)
開催地(和) 北九州国際会議場
開催地(英) Kitakyushu International Conference Center
テーマ(和) システム設計および一般
テーマ(英) System Design, etc.
委員長氏名(和) 松永 裕介(九大) / 福井 正博(立命館大)
委員長氏名(英) Yusuke Matsunaga(Kyushu Univ.) / Masahiro Fukui(Ritsumeikan Univ.)
副委員長氏名(和) 竹中 崇(NEC)
副委員長氏名(英) Takashi Takenana(NEC)
幹事氏名(和) 冨山 宏之(立命館大) / 福田 大輔(富士通研) / 横山 昌生(シャープ) / 高島 康裕(北九州市大) / 西出 岳央(東芝)
幹事氏名(英) Hiroyuki Tomiyama(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Masao Yokoyama(Sharp) / Yasuhiro Takashima(Kitakyushu City Univ.) / Takeo Nishide(Toshiba)
幹事補佐氏名(和) 谷口 一徹(立命館大)
幹事補佐氏名(英) Ittetsu Taniguchi(Ritsumeikan Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on VLSI Design Technologies / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology
本文の言語 ENG-JTITLE
タイトル(和) レジスタの耐放射線性を考慮したスケジューリング問題に関する一検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Note on Scheduling Problem Considering the Radiation Resistance of Registers
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 耐放射線性 / radiation resistance
キーワード(2)(和/英) 高位設計 / high-level design
キーワード(3)(和/英) データスクラビング / data scrubbing
キーワード(4)(和/英) 整数計画法 / integer linear programming
第 1 著者 氏名(和/英) 井上 恵介 / Keisuke Inoue
第 1 著者 所属(和/英) 金沢工業高等専門学校(略称:金沢高専)
Kanazawa Technical College(略称:KTC)
第 2 著者 氏名(和/英) 金子 峰雄 / Mineo Kaneko
第 2 著者 所属(和/英) 北陸先端科学技術大学院大学(略称:北陸先端大)
Japan Advanced Institute of Science and Technology(略称:JAIST)
発表年月日 2016-05-11
資料番号
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) VLD-21
ページ範囲 pp.-(),
ページ数
発行日