| 講演名 | 2016-04-21 光電界センサ近傍界プロービングによるノイズ源識別を可能とする放射エミッション試験法の開発 飴谷 充隆(産総研), 黒川 悟(産総研), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MWP |
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| 開催期間 | 2016/4/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | テラヘルツ、一般 |
| テーマ（英） | Teraherz, etc. |
| 委員長氏名（和） | 門 勇一(京都工繊大) |
| 委員長氏名（英） | Yuichi Kado(Kyoto Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 川西 哲也(NICT) / 戸田 裕之(同志社大) |
| 副委員長氏名（英） | Tetsuya Kawanishi(NICT) / Hiroyuki Toda(Doshisha Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 米本 成人(電子航法研) / 枚田 明彦(NTT) |
| 幹事氏名（英） | Naruto Yonemoto(ENRI) / Akihiko Hirata(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | 池田 研介(電中研) / 菅野 敦史(NICT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kensuke Ikeda(CRIEPI) / Atsushi Kanno(NICT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Microwave and Millimeter-wave Photonics |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光電界センサ近傍界プロービングによるノイズ源識別を可能とする放射エミッション試験法の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of Electromagnetic Emission Test Method Achieving Noise Source Discrimination by Near-Field Probing with Optical Electric-field Sensor |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 飴谷 充隆 / Michitaka Ameya |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 黒川 悟 / Satoru Kurokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2016-04-21 |
| 資料番号 | |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | MWP-15 |
| ページ範囲 | pp.-(), |
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