講演名 | 2016-04-09 High-kゲート絶縁膜を有する自己整合四端子メタルダブルゲートNi-SPC LT poly-Si TFT 仁部 翔太(東北学院大), 大澤 弘樹(東北学院大), 原 明人(東北学院大), |
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抄録(和) | 低温で安価な結晶化プロセスとしてニッケル(Ni)を利用した金属誘起固相成長(Ni-SPC)に注目し、 更にデバイス高性能化のため、ゲート絶縁膜として high-k 膜である HfO2を利用した自己整合 4 端子メタルダブル ゲート(MeDG) Ni-SPC 低温(LT) 多結晶シリコン(poly-Si)薄膜トランジスタ(TFT)を形成した。この TFT は、トップ ゲート絶縁膜のみ HfO2を利用し、ボトムゲート絶縁膜は SiO2であるが、小さい S値と高いオン電流値を実現して いる。 |
抄録(英) | Self-aligned four-terminal (4T) metal double-gate (MeDG) low-temperature (LT) polycrystalline-silicon (poly-Si) thin film transistors (TFTs) were fabricated using nickel-induced solid-phase crystallization (Ni-SPC), an inexpensive crystallization process, at low temperature. In this experiment, we used high-k HfO2 gate stacks to enhance the performance of the TFTs and achieved a low subthreshold swing value (s-value) and high on-current. |
キーワード(和) | 金属誘起固相成長 / Ni-SPC / TFT / poly-Si / 4端子 / ダブルゲート |
キーワード(英) | Metal Induced Crystallization / Ni-SPC / TFT / Poly-Si / Four-Terminal / Double-Gate |
資料番号 | SDM2016-15,OME2016-15 |
発行日 | 2016-04-01 (SDM, OME) |
研究会情報 | |
研究会 | SDM / OME |
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開催期間 | 2016/4/8(から2日開催) |
開催地(和) | 沖縄県立博物館・美術館 博物館講座室 |
開催地(英) | Okinawa Prefectural Museum & Art Museum |
テーマ(和) | 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・バイオテクノロジー・材料・評価技術および一般 |
テーマ(英) | Thin film devices, etc |
委員長氏名(和) | 大野 裕三(筑波大) / 松田 直樹(産総研) |
委員長氏名(英) | Yuzou Oono(Univ. of Tsukuba) / Naoki Matsuda(AIST) |
副委員長氏名(和) | 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 森 竜雄(愛知工大) |
副委員長氏名(英) | Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Tatsuo Mori(Aichi Inst. of Tech.) |
幹事氏名(和) | 黒田 理人(東北大) / 鴻野 晃洋(NTT) / 染谷 隆夫(東大) |
幹事氏名(英) | Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Akihiro Kohno(NTT) / Takao Someya(Univ. of Tokyo) |
幹事補佐氏名(和) | 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) / 梶井 博武(阪大) / 田口 大(東工大) |
幹事補佐氏名(英) | Tadashi Yamaguchi(Renesas) / Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Organic Molecular Electronics |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | High-kゲート絶縁膜を有する自己整合四端子メタルダブルゲートNi-SPC LT poly-Si TFT |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Self-Aligned Four-Terminal Metal Double-Gate LT Ni-SPC Poly-Si TFT with High-k Gate Stack |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 金属誘起固相成長 / Metal Induced Crystallization |
キーワード(2)(和/英) | Ni-SPC / Ni-SPC |
キーワード(3)(和/英) | TFT / TFT |
キーワード(4)(和/英) | poly-Si / Poly-Si |
キーワード(5)(和/英) | 4端子 / Four-Terminal |
キーワード(6)(和/英) | ダブルゲート / Double-Gate |
第 1 著者 氏名(和/英) | 仁部 翔太 / Syota Nibe |
第 1 著者 所属(和/英) | 東北学院大学(略称:東北学院大) Tohoku Gakuin University(略称:Tohoku Gakuin Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 大澤 弘樹 / Hiroki Ohsawa |
第 2 著者 所属(和/英) | 東北学院大学(略称:東北学院大) Tohoku Gakuin University(略称:Tohoku Gakuin Univ.) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 原 明人 / Akito Hara |
第 3 著者 所属(和/英) | 東北学院大学(略称:東北学院大) Tohoku Gakuin University(略称:Tohoku Gakuin Univ.) |
発表年月日 | 2016-04-09 |
資料番号 | SDM2016-15,OME2016-15 |
巻番号(vol) | vol.116 |
号番号(no) | SDM-1,OME-2 |
ページ範囲 | pp.61-65(SDM), pp.61-65(OME), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2016-04-01 (SDM, OME) |