講演名 2016-04-08
[招待講演]Sn系IV族半導体混晶薄膜の成長と物性評価
志村 洋介(静岡大), 竹内 和歌奈(名大), 坂下 満男(名大), 黒澤 昌志(名大), 中塚 理(名大), 財満 鎭明(名大),
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抄録(和) Si基板上への電子デバイスおよび光学デバイス集積に、Siプロセスへの親和性が高く、歪およびエネルギーバンドギャップの制御が可能なSn系IV族半導体混晶が注目されている。我々は非平衡成長により固溶限を超えるSn原子の導入を達成し、その安定化に歪が大きく関与していることを見出した。また、様々なIV族半導体元素からなる多元系混晶の高品質薄膜成長に成功し、それらの物性評価を行った。特にエネルギーバンド構造の実験的評価により、Sn系IV族半導体混晶の光学デバイス応用への展望が大きく開けた。
抄録(英) Strain and energy band structure can be designed in Sn-containing group-IV semiconductor alloys. Moreover, as these new semiconductor materials are compatible with a conventional Si process, they are fascinating materials to be implemented into both electronic and optoelectronic devices to realize an integration of them on a Si substrate. We have achieved to grow those epitaxial layers with stabilized high amount of Sn by non-equilibrium growth and controlling strain. Characterization of binary and ternary Sn-containing group-IV alloys, especially the experimentally confirmed their energy band structure, represents a prospect of monolithic integration of everything on a chip.
キーワード(和) シリコンフォトニクス / Sn / 歪 / エネルギーバンド構造
キーワード(英) Si-photonics / Sn / strain / energy band structure
資料番号 SDM2016-5,OME2016-5
発行日 2016-04-01 (SDM, OME)

研究会情報
研究会 SDM / OME
開催期間 2016/4/8(から2日開催)
開催地(和) 沖縄県立博物館・美術館 博物館講座室
開催地(英) Okinawa Prefectural Museum & Art Museum
テーマ(和) 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・バイオテクノロジー・材料・評価技術および一般
テーマ(英) Thin film devices, etc
委員長氏名(和) 大野 裕三(筑波大) / 松田 直樹(産総研)
委員長氏名(英) Yuzou Oono(Univ. of Tsukuba) / Naoki Matsuda(AIST)
副委員長氏名(和) 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 森 竜雄(愛知工大)
副委員長氏名(英) Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Tatsuo Mori(Aichi Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 黒田 理人(東北大) / 鴻野 晃洋(NTT) / 染谷 隆夫(東大)
幹事氏名(英) Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Akihiro Kohno(NTT) / Takao Someya(Univ. of Tokyo)
幹事補佐氏名(和) 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) / 梶井 博武(阪大) / 田口 大(東工大)
幹事補佐氏名(英) Tadashi Yamaguchi(Renesas) / Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Organic Molecular Electronics
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]Sn系IV族半導体混晶薄膜の成長と物性評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] Growth and characterization of Sn-containing group-IV semiconductor thin film
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) シリコンフォトニクス / Si-photonics
キーワード(2)(和/英) Sn / Sn
キーワード(3)(和/英) 歪 / strain
キーワード(4)(和/英) エネルギーバンド構造 / energy band structure
第 1 著者 氏名(和/英) 志村 洋介 / Yosuke Shimura
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学(略称:静岡大)
Sizuoka University(略称:Sizuoka Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 竹内 和歌奈 / Wakana Takeuchi
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋大学(略称:名大)
Nagoya University(略称:Nagoya Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 坂下 満男 / Mitsuo Sakashita
第 3 著者 所属(和/英) 名古屋大学(略称:名大)
Nagoya University(略称:Nagoya Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 黒澤 昌志 / Masashi Kurosawa
第 4 著者 所属(和/英) 名古屋大学(略称:名大)
Nagoya University(略称:Nagoya Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 中塚 理 / Osamu Nakatsuka
第 5 著者 所属(和/英) 名古屋大学(略称:名大)
Nagoya University(略称:Nagoya Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) 財満 鎭明 / Shigeaki Zaima
第 6 著者 所属(和/英) 名古屋大学(略称:名大)
Nagoya University(略称:Nagoya Univ.)
発表年月日 2016-04-08
資料番号 SDM2016-5,OME2016-5
巻番号(vol) vol.116
号番号(no) SDM-1,OME-2
ページ範囲 pp.23-26(SDM), pp.23-26(OME),
ページ数 4
発行日 2016-04-01 (SDM, OME)