| 講演名 | 2016-04-14 ［依頼講演］確率微分方程式によるReRAM信頼性予測方法開発 魏 志強(PSCS), 江利口 浩二(京大), 村岡 俊作(PSCS), 片山 幸治(PSCS), 安原 隆太郎(PSCS), 河合 健(PSCS), 早川 幸夫(PSCS), 島川 一彦(PSCS), 三河 巧(PSCS), 米田 慎一(PSCS), |
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| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 確率微分方程式に基づき、ReRAM固有な抵抗ばらつきを含めた抵抗分布を記述する方程式を開発した。この式を用い、フィラメント径、フィラメント中酸素欠陥数を表す充填率の定量化方法を示した。さらに、これらの定量値を用いることで、抵抗値のリテンション劣化を予測することができ、２Mbのメモリアレイで実証することができた。 |
| 抄録(英) | An analytic formula based on stochastic differential equation is successfully developed to describe intrinsic ReRAM variation. The formula is useful to predict scaled ReRAM memory window after retention, verified by testing 40 nm 2Mb memory array. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | Stochastic Differential EquationPercolation hopping modelFilamentRetention |
| 資料番号 | ICD2016-7 |
| 発行日 | 2016-04-07 (ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2016/4/14(から2日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | メモリ技術と一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 藤島 実(広島大) |
| 委員長氏名（英） | Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) |
| 副委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) |
| 幹事氏名（和） | 吉田 毅(広島大) |
| 幹事氏名（英） | Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | ［依頼講演］確率微分方程式によるReRAM信頼性予測方法開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Invited Lecture] Reliability Projecting for ReRAM based on Stochastic Differential Equation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Stochastic Differential EquationPercolation hopping modelFilamentRetention |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 魏 志強 / Zhiqiang Wei |
| 第 1 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 江利口 浩二 / Koji Eriguchi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto Univerisity(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 村岡 俊作 / Shunsaku Muraoka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 片山 幸治 / Koji Katayama |
| 第 4 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 安原 隆太郎 / Ryotaro Yasuhara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 河合 健 / Kawai Ken |
| 第 6 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 早川 幸夫 / Yukio Hayakawa |
| 第 7 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 島川 一彦 / Kazuhiko Shimakawa |
| 第 8 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 三河 巧 / Takumi Mikawa |
| 第 9 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 米田 慎一 / Yoneda Shinichi |
| 第 10 著者 所属（和/英） | パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社(略称：PSCS) 1Panasonic Semiconductor Solutions Co., Ltd.,(略称：PSCS) |
| 発表年月日 | 2016-04-14 |
| 資料番号 | ICD2016-7 |
| 巻番号（vol） | vol.116 |
| 号番号（no） | ICD-3 |
| ページ範囲 | pp.33-37(ICD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-04-07 (ICD) |