| 講演名 | 2016-02-19 電気接点対を接触させたときの接触抵抗の時間変化(その6) 宮重 敬太(静岡大), 関川 純哉(静岡大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2015-67,EMD2015-95 |
| 発行日 | 2016-02-12 (R, EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD / R |
|---|---|
| 開催期間 | 2016/2/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | あざれあ(静岡市) |
| 開催地（英） | Azarea,Shizuoka |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジー研究会、IEEE CPMT JAPAN、IEEE Reliability Society Japan Chapter、 協賛：日本信頼性学会） |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 関川 純哉(静岡大) / 馬渡 宏泰(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Junya Sekikawa(Shizuoka Univ.) / Hiroyasu Mawatari(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 阿部 宜輝(NTT) / 弓削 哲史(防衛大) |
| 副委員長氏名（英） | Yoshiteru Abe(NTT) / Tetsushi Yuge(National Defense Academy) |
| 幹事氏名（和） | 澤田 滋(住友電装) / 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 安里 彰(富士通) / 岡村 寛之(広島大) |
| 幹事氏名（英） | Shigeru Sawada(Sumitomo Denso) / Kenji Suzuki(Fujielectric) / Akira Asato(Fujitsu) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 和田 真一(TMCシステム) / マラット ザニケエフ(九工大) / 田村 信幸(法政大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinichi Wada(TMC system) / Maratt Zanikef(Kyushu Inst. of Tech.) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Reliability |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電気接点対を接触させたときの接触抵抗の時間変化(その6) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Dependence of time evolution of contact resistance at the closed electrical contacts (6) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 宮重 敬太 / Keita Miyashige |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 静岡大学(略称：静岡大) Shizuoka University(略称：Shizuoka Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 関川 純哉 / Sekikawa Junya |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 静岡大学(略称：静岡大) Shizuoka University(略称：Shizuoka Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-02-19 |
| 資料番号 | R2015-67,EMD2015-95 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | R-454,EMD-455 |
| ページ範囲 | pp.13-17(R), pp.13-17(EMD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2016-02-12 (R, EMD) |