| 講演名 | 2016-02-17 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 里中 沙矢香(奈良先端大), 米田 友和(奈良先端大), 大和 勇太(奈良先端大), 井上 美智子(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられている．しかし，BISTは擬似乱数を用いるため，故障検出率が低い，テスト時間が長いという問題点がある．本研究では，短いテスト時間，少ないテストデータ量で高い故障検出率を達成することを目的とし，重み付きランダムパターン技術にLFSRリシーディング技術を組み合わせた手法を提案する．従来の重み付きランダムパターン生成技術では，LFSRのシードは固定とし，重みデータを変更することで高い故障検出率を実現している．これに対し，本研究では，重み付きランダムパターンを用いるが，各FFの重みを1 つに固定しすることで重みデータを不要とし，LFSRリシーディング技術を用いることで，少ないデータ量で高い故障検出率を実現する．評価実験では，従来のLFSRリシーディング技術，重み付きランダムパターン生成技術に対し，提案手法が短いテスト時間で，高い故障検出率を達成可能であることを示す． |
| 抄録(英) | Built-In Self-Test (BIST) is widely used to reduce test cost. However, it is difficult to achieve high fault coverage with short test time since BIST relies on pseudo random patterns. This paper presents a method to combine LFSR reseeding with weighted random pattern testing BIST (WRBIST) to achieve high fault coverage with short test time and small test data volume. Conventional WRBIST uses multiple weight sets to achieve high fault coverage instead of changing LFSR seed. In contrast, the proposed WRBIST uses a xed weight to save test data volume and does reseeding to improve fault coverage. Experimental results show that the proposed method can achieve higher fault coverage with short test time compared to conventional LFSR reseeding and WRBIST. |
| キーワード(和) | BIST / STUMPS / LFSR / リシード / 重み付きランダムパターン |
| キーワード(英) | BIST / STUMPS / LFSR / Reseeding / Weighted random pattern |
| 資料番号 | DC2015-92 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2016/2/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテスト |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 金川 信康(日立) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) |
| 副委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 副委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Built-In Self-Test with Combination of Weighted Random Pattern and Reseeding |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | STUMPS / STUMPS |
| キーワード(3)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(4)（和/英） | リシード / Reseeding |
| キーワード(5)（和/英） | 重み付きランダムパターン / Weighted random pattern |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 里中 沙矢香 / Sayaka Satonaka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 米田 友和 / Tomokazu Yoneda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 大和 勇太 / Yuta Yamato |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 井上 美智子 / Michiko Inoue |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2016-02-17 |
| 資料番号 | DC2015-92 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | DC-449 |
| ページ範囲 | pp.37-42(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |