| 講演名 | 2016-02-17 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について 李 富強(九工大), 温 暁青(九工大), ホルスト シュテファン(九工大), 宮瀬 紘平(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロックパスの両方へのIR-Dropの影響を調整することによって、高品質なキャプチャ電力安全型実速度スキャンテストを実現するためのテスト生成手法について述べ、大規模ベンチマーク回路を用いた実験結果でその有効性を示す。 |
| 抄録(英) | Both logic paths and clock paths are subject to the impact of IR-Drop which occurs in capture mode during scan test. This paper describes a new method for generating high-quality capture-power-safe at-speed scan test vectors by adjusting the impact of IR-Drop on both logic and clock paths. Experimental results on large benchmark circuits have shown the effectiveness of the proposed method. |
| キーワード(和) | 実速度スキャンテスト / IRドロップ / クロックストレッチ / キャプチャ電力安全性 / テスト品質 |
| キーワード(英) | At-Speed Scan Test / IR-Drop / Clock Stretch / Capture-Power-Safety / Test Quality |
| 資料番号 | DC2015-87 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
|---|---|
| 開催期間 | 2016/2/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテスト |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 金川 信康(日立) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) |
| 副委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 副委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
|---|---|
| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Logic-Path-and-Clock-Path-Aware At-Speed Scan Test Generation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度スキャンテスト / At-Speed Scan Test |
| キーワード(2)（和/英） | IRドロップ / IR-Drop |
| キーワード(3)（和/英） | クロックストレッチ / Clock Stretch |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ電力安全性 / Capture-Power-Safety |
| キーワード(5)（和/英） | テスト品質 / Test Quality |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 李 富強 / Fuqiang Li |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ホルスト シュテファン / Stefan Holst |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 発表年月日 | 2016-02-17 |
| 資料番号 | DC2015-87 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | DC-449 |
| ページ範囲 | pp.7-12(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |