| 講演名 | 2016-02-17 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 高野 秀之(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 山崎 浩二(明大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | DC2015-91 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2016/2/17(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテスト |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 金川 信康(日立) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) |
| 副委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 副委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 故障励起条件解析を用いたユニバーサル論理故障診断のための被疑故障ランキング法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Ranking Method of Suspicious Candidate Faults Using Fault Excitation Condition Analysis for Universal Logical Fault Diagnosis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高野 秀之 / Hideyuki Takano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 山崎 浩二 / Koji Yamazaki |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 明治大学(略称：明大) Meiji University(略称：Meiji Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-02-17 |
| 資料番号 | DC2015-91 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | DC-449 |
| ページ範囲 | pp.31-36(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-02-10 (DC) |