| 講演名 | 2016-01-28 乱数マスクの耐タンパ性の定量的評価 松久 僚真(名城大), 吉川 雅弥(名城大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 暗号回路では、暗号化処理において発生する消費電力を測定して、消費電力と暗号中間値の差分を調べることで、暗号化に使われた秘密鍵を推定することができることが知られている。この推定方法に対する対策として、暗号中間値に対して乱数との排他的論理和によるマスク処理を行うことで、電力の差分を打ち消す方法が提案されている。しかし、この手法で使用される乱数の精度が、相関を打ち消すことにどの程度影響を及ぼしているのかについて検証が十分にされていない。そこで本研究では、複数の乱数生成器を用いて乱数を生成し、それらの精度を測定する．そして，標準暗号AESに生成された乱数を用いたマスク処理を施し電力解析攻撃を実行して、乱数の精度とマスク処理による対策効果との関係を定量的に評価する。 |
| 抄録(英) | When a cryptographic circuit is used, it is extremely important to verify its tamper resistance against side-channel attacks. Side-channel attacks illegally obtain confidential information using physical information, such as power consumption and electromagnetic waves generated during the encryption processing. In particular, power analysis attacks using power consumption can easily analyze confidential information. The masking is a typical measure against power analysis attacks. In this method, the correlation between power consumption and confidential information is masked by adding random numbers to intermediate data of encryption. However, there are no reports on relationship between the period and accuracy of the random number and the tamper resistance in the masking. This study verifies the tamper resistance of the masking using several random number generators. |
| キーワード(和) | 耐タンパ性 / AES / 乱数マスク / 電力解析攻撃 |
| キーワード(英) | Tamper Resistance / AES / Random Number Masking / Power Analysis Attack |
| 資料番号 | CAS2015-70 |
| 発行日 | 2016-01-21 (CAS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS |
|---|---|
| 開催期間 | 2016/1/28(から2日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 田中 聡(村田製作所) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Tanaka(Murata) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 俊彦(新潟大) |
| 副委員長氏名（英） | Toshihiko Takahashi(Niigata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 山脇 大造(日立) / 越田 俊介(東北大) |
| 幹事氏名（英） | Taizou Yamawaki(Hitachi) / Shunsuke Koshita(Tohoku Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立) |
| 幹事補佐氏名（英） | Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Circuits and Systems |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 乱数マスクの耐タンパ性の定量的評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Quantitative Evaluation of Tamper Resistance for Random Number Masking |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐タンパ性 / Tamper Resistance |
| キーワード(2)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(3)（和/英） | 乱数マスク / Random Number Masking |
| キーワード(4)（和/英） | 電力解析攻撃 / Power Analysis Attack |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 松久 僚真 / Ryoma Matsuhisa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 名城大学(略称：名城大) Meijo University(略称：Meijo Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉川 雅弥 / Masaya Yoshikawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名城大学(略称：名城大) Meijo University(略称：Meijo Univ.) |
| 発表年月日 | 2016-01-28 |
| 資料番号 | CAS2015-70 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | CAS-422 |
| ページ範囲 | pp.51-56(CAS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-01-21 (CAS) |