| 講演名 | 2016-01-29 スイッチング電源回路におけるデューティ比異常の検出方法 菅原 貴彦(富士通研), 米澤 遊(富士通研), 中尾 宏(富士通研), 中島 善康(富士通研), |
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| 抄録(和) | 本報告では，デジタル制御のスイッチング電源回路において，過電流検出回路をソフトウェアで多重化することにより，電源の信頼性を向上させる技術を提案する．入力電圧，目標電圧，出力電流から正常なデューティ比の範囲を逐次計算し，デューティ比が正常範囲を逸脱した場合に電流検出回路の異常と判断し，安全のため電源を強制停止させる．本報告では，シミュレーション及び実験による検証結果を述べる． |
| 抄録(英) | In this report, we suggest the technique to improve the reliability of the power supply with multiplexing an overcurrent detection circuit by software in a digitally controlled switching mode power supply circuit. We calculate a normal duty ratio range theoretically during operation, using a input voltage, a target voltage, and an output current. If an real duty ratio exceeds this normal range, switching operation is forcibly stopped for safe as the failure of the current detection circuit. In this report, we discuss the inspection results studied using simulation and experiment. |
| キーワード(和) | スイッチング電源 / デジタル制御 / 電流検出回路 / デューティ比 / 異常検出 |
| キーワード(英) | Switching Mode Power Supply / Digitally Control / Current Detection Circuit / Duty Ratio / Failure Detection |
| 資料番号 | EE2015-24 |
| 発行日 | 2016-01-21 (EE) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EE |
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| 開催期間 | 2016/1/28(から2日開催) |
| 開催地（和） | 久留米ホテル エスプリ |
| 開催地（英） | KURUME HOTEL ESPRIT |
| テーマ（和） | 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連，一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 大津 智(NTTファシリティーズ総研) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Ohtsu(NTT Facilities Research Inst.) |
| 副委員長氏名（和） | 中原 正俊(崇城大) |
| 副委員長氏名（英） | Masatoshi Nakahara(Sojo Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 末次 正(福岡大) |
| 幹事氏名（英） | Tadashi Suetsugu(Fukuoka Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山下 暢彦(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | Nobuhiko Yamashita(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Energy Engineering in Electronics and Communications |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スイッチング電源回路におけるデューティ比異常の検出方法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Anomaly Detection Technique of Duty Ratio in Switching Mode Power Supply Circuit |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スイッチング電源 / Switching Mode Power Supply |
| キーワード(2)（和/英） | デジタル制御 / Digitally Control |
| キーワード(3)（和/英） | 電流検出回路 / Current Detection Circuit |
| キーワード(4)（和/英） | デューティ比 / Duty Ratio |
| キーワード(5)（和/英） | 異常検出 / Failure Detection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 菅原 貴彦 / Takahiko Sugawara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所(略称：富士通研) FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称：FUJITSU LAB. LTD.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 米澤 遊 / Yu Yonezawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所(略称：富士通研) FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称：FUJITSU LAB. LTD.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中尾 宏 / Hiroshi Nakao |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所(略称：富士通研) FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称：FUJITSU LAB. LTD.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 中島 善康 / Yoshiyasu Nakashima |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社富士通研究所(略称：富士通研) FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称：FUJITSU LAB. LTD.) |
| 発表年月日 | 2016-01-29 |
| 資料番号 | EE2015-24 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | EE-429 |
| ページ範囲 | pp.91-96(EE), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2016-01-21 (EE) |