講演名 2015-12-17
[ポスター講演]時間的なマスキングの無効化を考慮した高精度なソフトエラー伝播解析手法
西住 友里(神戸大), 木美 雄太(神戸大), 松川 豪(神戸大), 吉田 周平(神戸大), 和泉 慎太郎(神戸大), 川口 博(神戸大), 吉本 雅彦(神戸大),
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抄録(和) 車載や医療など誤動作が人命に関わる分野で用いられるVLSIプロセッサには高い信頼性が求められる.一方,プロセスの微細化に伴い,ソフトエラーの発生確率は上昇する.そのため,高信頼なプロセッサ設計のためにはソフトエラーの影響評価が必要となる.しかし,故障注入によるソフトエラー伝搬解析には膨大な評価時間を要する.そのため,短時間で評価可能な解析的な手法の検討を行った. 本研究では,高精度なソフトエラー伝搬解析手法を提案する.従来手法ではtemporal maskingとlogical maskingの効果を考慮した伝搬解析を行っていた.提案手法では従来手法で考慮できない,イネーブル制御されているフリップフロップにおけるtemporal maskingの無効化を考慮した伝搬解析を行った.6つのベンチマーク回路を対象に従来手法と提案手法の平均絶対誤差(MAE)を比較することで,イネーブル確率が0.1のとき,提案手法のMAEの平均が従来手法に対し49.87%減少することを確認した.
抄録(英) A highly reliable VLSI processor is required in a wide range of fields which include automotive, medical and space application. On the other hand, technology scaling increases soft error rate, so it is necessary to evaluate influence of soft error. However, soft error propagation analysis using fault injection takes an enormous amount of time. In order to evaluate it in a short time, analytical technique is strongly required. In this paper, we propose an accurate soft error propagation analysis technique. Conventional analysis techniques have considered temporal and logical masking effect. The proposed technique considers temporal masking disablement in flip-flop under enable control, which is not considered in conventional techniques. We made a comparison between Mean Absolute Error(MAE) of conventional and that of proposed analysis techniques for six benchmarks. These results show that the proposed technique reduces 49.87% in average of MAE when the enabled probability is 0.1.
キーワード(和) ソフトエラー率 / ソフトエラー伝搬 / Temporal masking / Logical masking
キーワード(英) Soft error rate / Soft error propagation / Temporal masking / Logical masking
資料番号 ICD2015-81,CPSY2015-94
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)

研究会情報
研究会 ICD / CPSY
開催期間 2015/12/17(から2日開催)
開催地(和) 京都工芸繊維大学
開催地(英) Kyoto Institute of Technology
テーマ(和) 学生・若手研究会
テーマ(英)
委員長氏名(和) 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大)
委員長氏名(英) Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST)
副委員長氏名(和) 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大)
副委員長氏名(英) Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo)
幹事氏名(和) 吉田 毅(広島大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII)
幹事氏名(英) Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII)
幹事補佐氏名(和) 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大)
幹事補佐氏名(英) Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems
本文の言語 JPN
タイトル(和) [ポスター講演]時間的なマスキングの無効化を考慮した高精度なソフトエラー伝播解析手法
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Poster Presentation] An Accurate Soft Error Propagation Analysis Technique Considering Temporal Masking Disablement
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー率 / Soft error rate
キーワード(2)(和/英) ソフトエラー伝搬 / Soft error propagation
キーワード(3)(和/英) Temporal masking / Temporal masking
キーワード(4)(和/英) Logical masking / Logical masking
第 1 著者 氏名(和/英) 西住 友里 / Yuri Nishizumi
第 1 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 木美 雄太 / Yuta Kimi
第 2 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 松川 豪 / Go Matsukawa
第 3 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 吉田 周平 / Shuhei Yoshida
第 4 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 和泉 慎太郎 / Shintaro Izumi
第 5 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 6 著者 氏名(和/英) 川口 博 / Hiroshi Kawaguchi
第 6 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
第 7 著者 氏名(和/英) 吉本 雅彦 / Masahiko Yoshimoto
第 7 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
発表年月日 2015-12-17
資料番号 ICD2015-81,CPSY2015-94
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) ICD-373,CPSY-374
ページ範囲 pp.65-65(ICD), pp.65-65(CPSY),
ページ数 1
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)