講演名 2015-12-17
[ポスター講演]カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリデバイスの信頼性評価
猪瀬 貴史(中大), Tomoko Ogura Iwasaki(中大), Sheyang Ning(中大), 竹内 健(中大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 ICD2015-73,CPSY2015-86
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)

研究会情報
研究会 ICD / CPSY
開催期間 2015/12/17(から2日開催)
開催地(和) 京都工芸繊維大学
開催地(英) Kyoto Institute of Technology
テーマ(和) 学生・若手研究会
テーマ(英)
委員長氏名(和) 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大)
委員長氏名(英) Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST)
副委員長氏名(和) 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大)
副委員長氏名(英) Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo)
幹事氏名(和) 吉田 毅(広島大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII)
幹事氏名(英) Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII)
幹事補佐氏名(和) 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大)
幹事補佐氏名(英) Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems
本文の言語 JPN
タイトル(和) [ポスター講演]カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリデバイスの信頼性評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Poster Presentation] Reliability evaluation of the non-volatile memory device using carbon nanotubes
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 猪瀬 貴史 / Takashi Inose
第 1 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) Tomoko Ogura Iwasaki / Tomoko Ogura Iwasaki
第 2 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) Sheyang Ning / Sheyang Ning
第 3 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 竹内 健 / Ken Takeuchi
第 4 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
発表年月日 2015-12-17
資料番号 ICD2015-73,CPSY2015-86
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) ICD-373,CPSY-374
ページ範囲 pp.45-45(ICD), pp.45-45(CPSY),
ページ数 1
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)