| 講演名 | 2015-12-17 ［ポスター講演］プライバシー保護の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価 前田 一輝(中大), 山沢 裕紀(中大), 竹内 健(中大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 近年、インターネット上のプライバシーに関わるデジタルデータを保護する為に「忘れられる権利」が注目されている。NAND型フラッシュメモリは浮遊ゲートにトンネリング効果を用いて電子を注入してデータを書き込み、放出することで消去を行う。しかし、書き換え回数が増えることにより絶縁膜が劣化し、浮遊ゲート内の電子が抜け落ちることでエラーが生じ信頼性が低下する。また、NAND型フラッシュメモリではエラー確率が高い精度で予測できるという特徴がある。この特徴を利用することで「忘れられる権利」を実現することが出来る。本論文では「忘れられる権利」の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性の評価を行った。 |
| 抄録(英) | Recently, Internet-data’s “Right to be forgotten” has been established for the privacy protection of personal information on the internet. NAND flash memory is programed/erased by injection/ejection electron to/from floating gate using the tunneling effect. However, the reliability of NAND flash memory is decreased because the tunnel oxide degradation causes the electrons ejection due to an increase in write/erase cycle. The right to be forgotten is realized by using characteristics of NAND flash memory which can accurately predict the bit-error rate. This paper evaluates reliability of NAND flash memory for privacy protection. |
| キーワード(和) | NAND型フラッシュメモリ / プライバシー保護 / 信頼性 |
| キーワード(英) | NAND flash memory / privacy protection / reliability |
| 資料番号 | ICD2015-74,CPSY2015-87 |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / CPSY |
|---|---|
| 開催期間 | 2015/12/17(から2日開催) |
| 開催地（和） | 京都工芸繊維大学 |
| 開催地（英） | Kyoto Institute of Technology |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) |
| 副委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) |
| 幹事氏名（和） | 吉田 毅(広島大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) |
| 幹事氏名（英） | Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) |
| 幹事補佐氏名（和） | 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［ポスター講演］プライバシー保護の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Reliability Evaluation of Privacy Protection with NAND Flash Memories |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory |
| キーワード(2)（和/英） | プライバシー保護 / privacy protection |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 前田 一輝 / Kazuki Maeda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 山沢 裕紀 / Hiroki Yamazawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 竹内 健 / Ken Takeuchi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 中央大学(略称：中大) Chuo University(略称：Chuo Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-12-17 |
| 資料番号 | ICD2015-74,CPSY2015-87 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | ICD-373,CPSY-374 |
| ページ範囲 | pp.47-47(ICD), pp.47-47(CPSY), |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2015-12-10 (ICD, CPSY) |