講演名 2015-12-17
[ポスター講演]誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価
山賀 祐典(中大), 徳富 司(中大), 小林 惇朗(中大), 竹内 健(中大),
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抄録(和) NAND型フラッシュメモリを用いたソリッド・ステート・ドライブ(SSD)では、誤り訂正符号によって信頼性が保障されている。従来様々な誤り訂正符号が提案されているが、訂正能力の高い誤り訂正符号は復号に時間がかかるため、NAND型フラッシュメモリに用いた場合性能低下を引き起こす。また、SSDはデータを上書き出来ないという特性上、有効データがあるページにデータを書き込む際や空き領域の確保を行う際に、読み出し動作が必要となる。読み出し動作が頻発すると、それに伴い復号遅延が増加する。本論文ではSSDシミュレーターを用いることで、従来提案されている様々な誤り訂正符号に対する信頼性と性能の関係性を調査した。
抄録(英) In the NAND flash memory based solid-state drives (SSDs), reliability is guaranteed by error correcting code (ECC). Conventional ECCs, which has higher error correction capability, causes performance degradation due to the longer ECC decoding time. Since in-place overwriting is prohibited in NAND flash, multiple read operations are required during the write in valid pages and reclaiming the free space. As a result, ECC decoding time is increased due to the frequently read operations. In this paper, the relation between performance and reliability is investigated for conventional ECCs by utilizing the SSD simulator.
キーワード(和) NAND型フラッシュメモリ / ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / 誤り訂正符号
キーワード(英) NAND flash memory / Solid-State-Drives (SSDs) / Error correction code (ECC)
資料番号 ICD2015-71,CPSY2015-84
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)

研究会情報
研究会 ICD / CPSY
開催期間 2015/12/17(から2日開催)
開催地(和) 京都工芸繊維大学
開催地(英) Kyoto Institute of Technology
テーマ(和) 学生・若手研究会
テーマ(英)
委員長氏名(和) 藤島 実(広島大) / 中島 康彦(奈良先端大)
委員長氏名(英) Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST)
副委員長氏名(和) 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大)
副委員長氏名(英) Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo)
幹事氏名(和) 吉田 毅(広島大) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII)
幹事氏名(英) Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII)
幹事補佐氏名(和) 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大)
幹事補佐氏名(英) Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems
本文の言語 JPN
タイトル(和) [ポスター講演]誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Poster Presentation] Performance Evaluation of Solid-State-Drives (SSDs) by Considering the effect of Error-correcting code
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) NAND型フラッシュメモリ / NAND flash memory
キーワード(2)(和/英) ソリッド・ステート・ドライブ(SSD) / Solid-State-Drives (SSDs)
キーワード(3)(和/英) 誤り訂正符号 / Error correction code (ECC)
第 1 著者 氏名(和/英) 山賀 祐典 / Yusuke Yamaga
第 1 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 徳富 司 / Tsukasa Tokutomi
第 2 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 小林 惇朗 / Atsuro Kobayashi
第 3 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 竹内 健 / Ken Takeuchi
第 4 著者 所属(和/英) 中央大学(略称:中大)
Chuo University(略称:Chuo Univ.)
発表年月日 2015-12-17
資料番号 ICD2015-71,CPSY2015-84
巻番号(vol) vol.115
号番号(no) ICD-373,CPSY-374
ページ範囲 pp.41-41(ICD), pp.41-41(CPSY),
ページ数 1
発行日 2015-12-10 (ICD, CPSY)