| 講演名 | 2015-12-18 デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について 三宅 庸資(九工大), 加藤 隆明(九工大), 糸永 卓矢(九工大), 佐藤 康夫(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている．このデジタルモニタは，一般的なアナログ回路によるモニタと比較して，測定時間が短いため測定結果をリアルタイムにシステムへ反映でき，また，CPU等の測定したい箇所の近くに配置できる利点がある．本論文では，デジタルモニタを実装したテストチップを用いてチップ内温度電圧の時間的な変動や空間的な変動を測定し，短時間測定が可能かつ小規模なデジタルモニタの有効性について検討する． |
| 抄録(英) | A digital monitor for measuring a temperature and a voltage of VLSIs is proposed. The monitor can derive measurement results in real time, because the measurement time of the monitor is shorter than that of conventional monitors using analog circuits. Moreover, there is an advantage that the proposed monitor can be placed close to the circuit under test such as a CPU. This paper discusses temporal and spatial variations in the on-chip temperature and voltage which are measured using the monitor. Then, this paper discusses the need of the digital monitor, which is a full digital design, short time measurement and a small chip area, using a fabricated test chip with 180 nm CMOS technology. |
| キーワード(和) | 温度モニタ / 電圧モニタ / リングオシレータ / 完全デジタル設計 / フィールドテスト |
| キーワード(英) | Temperature monitor / Voltage monitor / Ring Oscillator / Fully digital design / Field test |
| 資料番号 | DC2015-74 |
| 発行日 | 2015-12-11 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2015/12/18(から1日開催) |
| 開催地（和） | クリエート村上(村上市) |
| 開催地（英） | Kurieito Mulakami (Murakami City) |
| テーマ（和） | 安全性・一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 金川 信康(日立) |
| 委員長氏名（英） | Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) |
| 副委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 副委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) |
| 幹事氏名（英） | Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Measurement of On-Chip Temperature And Voltage Variation Using A Digital Monitor |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 温度モニタ / Temperature monitor |
| キーワード(2)（和/英） | 電圧モニタ / Voltage monitor |
| キーワード(3)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| キーワード(4)（和/英） | 完全デジタル設計 / Fully digital design |
| キーワード(5)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 糸永 卓矢 / Takuya Itonaga |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 発表年月日 | 2015-12-18 |
| 資料番号 | DC2015-74 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | DC-382 |
| ページ範囲 | pp.5-10(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-12-11 (DC) |