| 講演名 | 2015-12-03 テスト容易でオンライン誤り検出可能な桁上げ選択加算器 鬼頭 信貴(中京大), |
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| 抄録(和) | テストが容易で，さらに動作中に故障による回路出力の誤りを検出可能(オンライン誤り検出可能)な桁上げ選択加算器を提案する．テスト容易でオンライン誤り検出可能な桁上げ選択加算ブロックを示し，この加算ブロックをもとに，複数ブロックで構成した桁上げ選択加算器を提案する．提案する複数ブロックで構成した桁上げ選択加算器は，故障モデルとして単一縮退故障を考えるとき，オペランドのビット幅やブロック数に依存せず10個の入力パターンでテスト可能である．テストのためのパターン集合の構成方法も示す．提案加算器は動作中に単一の縮退故障による回路出力の誤りの検出も可能であり，回路の二重化された桁上げ出力の比較，および，回路が出力する和のパリティ予測値と和の出力のパリティの比較により誤りを検出できる． |
| 抄録(英) | An easily testable multi-block carry select adder with online error detection capability is proposed. An easily testable carry select addition block is shown and its testability and error detection mechanism is discussed, and an easily testable multi-block carry select adder based on the addition block is proposed. The proposed multi-block adder is testable with 10 patterns independent of the bit-width of operands and the number of addition blocks. A test pattern generation method for the adder is shown. Any error of the adder caused by a single stuck-at fault can be detected by comparing the predicted parity of the adder result with the parity of the adder result and comparing the duplicated carry outputs. |
| キーワード(和) | オンライン誤り検出 / 桁上げ選択加算器 / テスト容易化設計 |
| キーワード(英) | online error detection / carry select adder / design for testability |
| 資料番号 | VLD2015-72,DC2015-68 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / IPSJ-SLDM / CPSY / RECONF / ICD / CPM |
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| 開催期間 | 2015/12/1(から3日開催) |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 松永 裕介(九大) / 金川 信康(日立) / 福井 正博(立命館大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 藤島 実(広島大) / 野毛 悟(沼津高専) |
| 委員長氏名（英） | Yusuke Matsunaga(Kyushu Univ.) / Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) / Masahiro Fukui(Ritsumeikan Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 廣瀬 文彦(山形大) |
| 副委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 冨山 宏之(立命館大) / 福田 大輔(富士通研) / 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) / 横山 昌生(シャープ) / 高島 康裕(北九州市大) / 西出 岳央(東芝) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山田 裕(東芝) / 山口 佳樹(筑波大) / 吉田 毅(広島大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) |
| 幹事氏名（英） | Hiroyuki Tomiyama(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Masao Yokoyama(Sharp) / Yasuhiro Takashima(Kitakyushu City Univ.) / Takeo Nishide(Toshiba) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yutaka Yamada(Toshiba) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 谷口 一徹(立命館大) / / / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ittetsu Taniguchi(Ritsumeikan Univ.) / / / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Kazuya Tanikagawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Component Parts and Materials |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | テスト容易でオンライン誤り検出可能な桁上げ選択加算器 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Easily-testable Carry Select Adder with Online Error Detection Capability |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | オンライン誤り検出 / online error detection |
| キーワード(2)（和/英） | 桁上げ選択加算器 / carry select adder |
| キーワード(3)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 鬼頭 信貴 / Nobutaka Kito |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 中京大学(略称：中京大) Chukyo University(略称：Chukyo Univ.) |
| 発表年月日 | 2015-12-03 |
| 資料番号 | VLD2015-72,DC2015-68 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | VLD-338,DC-339 |
| ページ範囲 | pp.225-230(VLD), pp.225-230(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, DC) |