| 講演名 | 2015-12-01 ［フェロー記念講演］VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は，テスト品質向上（故障検出能力の向上）とコスト削減を主眼に研究開発が行われ，VLSIの普及や信頼性向上に貢献してきた．本講演では，膨大なテストデータを用いたビッグデータ解析や経年劣化に対処するためのフィールドテストなど，近年注目されているテスト技術を紹介し，これらがシステムディペンダビリティ向上の新たな付加価値を提供することへの期待について述べる． |
| 抄録(英) | VLSI Test technology for detection of manufacturing faults has been developed to improve test quality that is the capability of fault detection and to reduce test cost, and it has contributed to the spread of VLSIs and the improvement of system reliability. In this talk, recent test technology such as big data analysis using huge manufacturing test data and field test dealing with aging is introduced. And then, expectation to provide added value for enhancements of system dependability is described. |
| キーワード(和) | VLSIテスト / システムディペンダビリティ / ビッグデータ / フィールドテスト |
| キーワード(英) | VLSI test / system dependability / big data / field test |
| 資料番号 | VLD2015-44,CPM2015-128,ICD2015-53,CPSY2015-64,DC2015-40,RECONF2015-51 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / IPSJ-SLDM / CPSY / RECONF / ICD / CPM |
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| 開催期間 | 2015/12/1(から3日開催) |
| 開催地（和） | 長崎県勤労福祉会館 |
| 開催地（英） | Nagasaki Kinro Fukushi Kaikan |
| テーマ（和） | デザインガイア2015 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2015 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 松永 裕介(九大) / 金川 信康(日立) / 福井 正博(立命館大) / 中島 康彦(奈良先端大) / 渡邊 実(静岡大) / 藤島 実(広島大) / 野毛 悟(沼津高専) |
| 委員長氏名（英） | Yusuke Matsunaga(Kyushu Univ.) / Nobuyasu Kanekawa(Hitachi) / Masahiro Fukui(Ritsumeikan Univ.) / Yasuhiko Nakashima(NAIST) / Minoru Watanabe(Shizuoka Univ.) / Minoru Fujishima(Hiroshima Univ.) / Satoru Noge(Numazu National College of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 竹中 崇(NEC) / 井上 美智子(奈良先端大) / / 中野 浩嗣(広島大) / 入江 英嗣(東大) / 本村 真人(北大) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 廣瀬 文彦(山形大) |
| 副委員長氏名（英） | Takashi Takenana(NEC) / Michiko Inoue(NAIST) / / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 冨山 宏之(立命館大) / 福田 大輔(富士通研) / 岩田 浩司(鉄道総研) / 吉村 正義(京都産大) / 横山 昌生(シャープ) / 高島 康裕(北九州市大) / 西出 岳央(東芝) / 三吉 貴史(富士通研) / 鯉渕 道紘(NII) / 山田 裕(東芝) / 山口 佳樹(筑波大) / 吉田 毅(広島大) / 小舘 淳一(NTT) / 岩田 展幸(日大) |
| 幹事氏名（英） | Hiroyuki Tomiyama(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Fukuda(Fujitsu Labs.) / Koji Iwata(RTRI) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Masao Yokoyama(Sharp) / Yasuhiro Takashima(Kitakyushu City Univ.) / Takeo Nishide(Toshiba) / Takashi Miyoshi(Fujitsu Labs.) / Michihiro Koibuchi(NII) / Yutaka Yamada(Toshiba) / Yoshiki Yamaguchi(Univ. of Tsukuba) / Takeshi Yoshida(Hiroshima Univ.) / Junichi Kodate(NTT) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 谷口 一徹(立命館大) / / / 高前田 伸也(奈良先端大) / 大川 猛(宇都宮大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 高宮 真(東大) / 岩崎 裕江(NTT) / 橋本 隆(パナソニック) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 坂本 尊(NTT) / 中村 雄一(豊橋技科大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Ittetsu Taniguchi(Ritsumeikan Univ.) / / / Shinya Takameda(NAIST) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Kazuya Tanikagawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Hiroe Iwasaki(NTT) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Takashi Sakamoto(NTT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Component Parts and Materials |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［フェロー記念講演］VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Fellow Memorial Lecture] Improving System Dependability by VLSI Test Technology |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | VLSIテスト / VLSI test |
| キーワード(2)（和/英） | システムディペンダビリティ / system dependability |
| キーワード(3)（和/英） | ビッグデータ / big data |
| キーワード(4)（和/英） | フィールドテスト / field test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 発表年月日 | 2015-12-01 |
| 資料番号 | VLD2015-44,CPM2015-128,ICD2015-53,CPSY2015-64,DC2015-40,RECONF2015-51 |
| 巻番号（vol） | vol.115 |
| 号番号（no） | VLD-338,CPM-340,ICD-341,CPSY-342,DC-339,RECONF-343 |
| ページ範囲 | pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2015-11-24 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) |